PRECISE S200替代吉時(shí)利KEITHLEY2400源表
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/20 15:28:19
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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊(cè)資金人民幣壹仟萬(wàn)元整！實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國(guó)QIAN三!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG，且為行業(yè)里極少數(shù)通過會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司，公司遵紀(jì)守法，用戶合作安全可靠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品：
一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測(cè)消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫(kù)侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。
四、電子測(cè)量?jī)x器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬(wàn)用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。
五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬(wàn)通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫(kù)侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì)，DMM7510圖形萬(wàn)用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽(yáng)能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作，為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
國(guó)產(chǎn)PRECISE S200替代吉時(shí)利KEITHLEY2400源表應(yīng)用領(lǐng)域
各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析，包括：
離散和無(wú)源元件
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）等等
簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器
集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC
–射頻集成電路（RFIC）
–專用集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
圓片級(jí)可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
太陽(yáng)能電池
電池
暫態(tài)抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測(cè)器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路
測(cè)試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數(shù)
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數(shù)測(cè)試
直流電源
HIPOT
介質(zhì)耐受性
雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽(yáng)能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)
分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測(cè)量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測(cè)量
納米級(jí)器件和材料的電氣測(cè)量
提高超高電阻和電阻率測(cè)量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測(cè)量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測(cè)量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測(cè)量挑戰(zhàn)
測(cè)量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測(cè)量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評(píng)估氧化層的可靠性
半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測(cè)量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測(cè)量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測(cè)試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測(cè)量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測(cè)量
配置分立電阻器驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測(cè)試
多臺(tái)數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測(cè)試
OLED顯示器的直流生產(chǎn)測(cè)試
在運(yùn)行中第5次測(cè)量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析
數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個(gè)緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)
連接器的生產(chǎn)測(cè)試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析
VCSEL測(cè)試、光伏電池的I-V特性、IDDQ測(cè)試和待機(jī)電流測(cè)試、產(chǎn)生電流 (或電壓) 脈沖、提升多引腳器件的生產(chǎn)量、創(chuàng)建可擴(kuò)縮、多引腳、多功能IC測(cè)試系統(tǒng)、激光二極管模塊和VCSEL進(jìn)行高吞吐率直流、二極管生產(chǎn)測(cè)試、高亮度、可見光LED、驗(yàn)證變阻器、電池放電/充電周期、配置電阻網(wǎng)絡(luò)、大電流變阻器、熱敏電阻的生產(chǎn)測(cè)試
規(guī)格參數(shù)
電壓 源 測(cè)量
量程 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts)
300mV 30uV 0.1%±300uV 30uV 0.1%±300uV
3V 300uV 0.1%±500uV 300uV 0.1%±500uV
30V 3mV 0.1%±3mV 3mV 0.1%±3mV
300V 30mV 0.1%±30mV 30mV 0.1%±30mV
電流 源 測(cè)量
量程 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A)
100nA 10pA 0.1%±0.5nA 10pA 0.1%±0.5nA
1uA 100pA 0.1%±3nA 100pA 0.1%±3nA
10uA 1nA 0.1%±5nA 1nA 0.1%±5nA
100uA 10nA 0.1%±50nA 10nA 0.1%±50nA
1mA 100nA 0.1%±300nA 100nA 0.1%±300nA
10mA 1uA 0.1%±5uA 1uA 0.1%±5uA
100mA 10uA 0.1%±20uA 10uA 0.1%±20uA
1A 100uA 0.1%±2mA 100uA 0.1%±2mA
備注：
大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
過量程：105%量程，源和測(cè)量；
穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；
寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；
大采樣速率：1000S/s；
觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置 。
選型指南
型號(hào) S100 S200 S300
源精度 0.1% 0.1% 0.1%
測(cè)量精度 0.1% 0.1% 0.1%
大功率 30W 30W 30W
小電壓量程 300mV 300mV 300mV
大電壓量程 30V 100V 300V
小電流量程 100nA 100nA 100nA
大電流量程 1A 1A 1A
把簡(jiǎn)單帶給用戶
源表 = 高精度雙極性可編程電源 + 高精度雙極性可編程電子負(fù)載 + 數(shù)字萬(wàn)用表，可以簡(jiǎn)化復(fù)雜的 IV 測(cè)量任務(wù)，用于創(chuàng)建快速、功能強(qiáng)大的電子器件測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)。
傳統(tǒng)的萬(wàn)用表-電源組合方式需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步，這種組合的開發(fā)建立和維護(hù)都需要時(shí)間，而且購(gòu)買整體成本高。源表不需要這種多臺(tái)儀器相關(guān)復(fù)雜同步連接問題，簡(jiǎn)化了測(cè)試本身，提升了測(cè)試效率。而且源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5數(shù)位，測(cè)量結(jié)果比傳統(tǒng)方式更精確。
源表同時(shí)精確提供和測(cè)量電壓和/或電流，減少了測(cè)試時(shí)間。如果被測(cè)設(shè)備實(shí)際電壓值或者電流值達(dá)到了用戶設(shè)置的限制值，那么電壓或者電流會(huì)被精確的限制住，避免了對(duì)被測(cè)設(shè)備造成損壞。
S系列源表讓復(fù)雜測(cè)量變得簡(jiǎn)單
在進(jìn)行 IV 測(cè)量時(shí)，如果使用常規(guī)儀器比如電壓/電流源、開關(guān)和萬(wàn)用表，那么測(cè)量過程將會(huì)非常復(fù)雜和耗時(shí)。用戶必須精通測(cè)量方法和儀器方面的技術(shù)知識(shí)，才能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的測(cè)量。
S系列源表支持四象限工作，既能擔(dān)當(dāng)精密性電壓/電流源（源模式），又能充當(dāng)電氣負(fù)載被動(dòng)吸收流入的電流（肼模式），而且支持豐富的掃描模式（線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描），能夠執(zhí)行從直流到低頻交流的各種測(cè)量，而無(wú)需更改連接或使用其他設(shè)備。
S系列源表讓復(fù)雜測(cè)量變得高效
源表的輸出電壓（±300V）、電流范圍遠(yuǎn)大于常規(guī)電源，測(cè)試不同功率大小的待測(cè)器件（DUT）基本不用更換設(shè)備，其次源表在小電流測(cè)試時(shí)也具有很高的精度，暗電流測(cè)試準(zhǔn)確，而高精度的電流測(cè)試萬(wàn)用表價(jià)格也是比較高的，再次多臺(tái)源表間可以互聯(lián)觸發(fā)，支持自動(dòng)序列測(cè)試，測(cè)試速度快。
S系列源表內(nèi)置有掃描功能，支持豐富的掃描模式，用戶從儀器前面板上便可快速進(jìn)行掃描測(cè)量并顯示掃描結(jié)果。綜合的掃描測(cè)量功能可以顯著提高效率并縮短測(cè)量設(shè)置時(shí)間。
S系列源表還內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，如LIV、PIV，加速用戶完成測(cè)試。
4 線測(cè)量功能可實(shí)現(xiàn)精確的低電阻測(cè)量
當(dāng)測(cè)量小電阻時(shí)，引線自身的電阻會(huì)造成嚴(yán)重的測(cè)量誤差。為解決這一問題，S系列支持 4 線（也稱為開爾文法）測(cè)量功能。在 4 線方案中，兩個(gè)連接器輸入電流，另外兩個(gè)連接器測(cè)量電壓。在這種配置下，迫使測(cè)試電流（I）經(jīng)過一套測(cè)試引線流過被測(cè)電阻（R）；而待測(cè)器件（DUT）兩端電壓則是通過稱為檢測(cè)引線的第二套引線來(lái)測(cè)量的。電壓檢測(cè)端為高阻輸入，檢測(cè)引線中電流一般為p*，同時(shí)由于導(dǎo)線電阻很小，引線上的壓降可以忽略不計(jì)，因此采用四線模式可以精確的測(cè)量被測(cè)器件上的實(shí)際電壓。
創(chuàng)新的 GUI 和 5寸觸摸顯示屏方便用戶使用臺(tái)式儀器執(zhí)行測(cè)試、調(diào)試和表征
S系列的前面板具有多種功能特性，可以快速簡(jiǎn)便地進(jìn)行交互式操作。這些特性包括5寸800*480觸摸顯示屏、USB存儲(chǔ)器I/O 端口、快捷鍵和旋鈕。觸摸屏支持全圖形化操作，使用戶可以快速進(jìn)行測(cè)試設(shè)置和檢查測(cè)試結(jié)果。USB存儲(chǔ)器端口使數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和轉(zhuǎn)移變得十分方便。創(chuàng)新的圖形用戶界面極大改善了使用臺(tái)式儀器進(jìn)行測(cè)試、調(diào)試和表征的易用性和效率。
國(guó)產(chǎn)PRECISE S200替代吉時(shí)利KEITHLEY2400源表使用操作說(shuō)明書指南手冊(cè)
一、S系列源表按鍵操作說(shuō)明
POWER:電源開關(guān)按鍵；
USB接口：版本升級(jí)及數(shù)據(jù)導(dǎo)出接口；
BACK:頁(yè)面返回鍵；
OUTPUT:信號(hào)輸出開/關(guān)，當(dāng)OUTPUT為綠色是表示正在輸出，否則停止輸出；
2/4線輸入輸出口：2線時(shí)輸入輸出口為（FORCE HI、FORCE LO）,四線時(shí)輸入輸出口為（FORCE HI、SENSEHI、SENSELO、FORCE LO）；注意：四線模式時(shí)需確保對(duì)應(yīng)的連接線已接好，否則會(huì)有安全風(fēng)險(xiǎn)；
旋轉(zhuǎn)按鈕：量程、數(shù)值設(shè)定；
二、主界面功能介紹
如圖1.2所示，源表按下電源開關(guān)后顯示為當(dāng)前主界面。源表主界面為可觸屏操作，點(diǎn)擊對(duì)應(yīng)功能模塊進(jìn)入操作頁(yè)面，各模塊功能簡(jiǎn)介如下：
測(cè)量：設(shè)置源表模式為源模式（電壓源、電流源）或測(cè)量模式（測(cè)量電壓、電流）；
設(shè)置：包括網(wǎng)絡(luò)IP和系統(tǒng)升級(jí)以及輸出模式等各項(xiàng)設(shè)置；
版本信息：顯示當(dāng)前Qt、模擬板、前面板版本信息；
掃描：測(cè)量待測(cè)器件的V/I變化曲線；
快速模式：選擇了電壓源或電流源模式后的源量程值和*程值默認(rèn)范圍更適合；
校準(zhǔn)：對(duì)機(jī)器精度進(jìn)行校準(zhǔn)（暫未對(duì)用戶開放）；
注意：
1.插拔線時(shí)務(wù)必確保機(jī)器處于輸出關(guān)閉態(tài).高于36V輸出時(shí),即使設(shè)備處于輸出關(guān)閉態(tài),也請(qǐng)不要用手觸摸輸出接口.
2.設(shè)置四線測(cè)試前,請(qǐng)先將四線電纜連接好并插入機(jī)器相對(duì)應(yīng)的測(cè)試孔,然后在觸摸面板選擇四線,再啟動(dòng)輸出.
3.四線測(cè)試使用完畢后請(qǐng)先將四線測(cè)試設(shè)置為二線測(cè)試,然后關(guān)閉輸出,再拔出測(cè)試線.
三、源表掃描設(shè)置
掃描設(shè)置界面
該界面主要分為3個(gè)區(qū)域，具體區(qū)域說(shuō)明如下：
區(qū)域1：選擇源類型、切換2/4線、前后面板和是否保存結(jié)果；
區(qū)域2：設(shè)置開始值和結(jié)束值，可以選擇掃描點(diǎn)或者步進(jìn)值來(lái)設(shè)定掃描點(diǎn)數(shù)和步進(jìn)值大小以及限值大小。
區(qū)域3：開始掃描和查看結(jié)果；
掃描狀態(tài)界面
開始值、結(jié)束值、掃描點(diǎn)數(shù)、限值和延時(shí)大小都通過點(diǎn)擊選項(xiàng)框后出現(xiàn)的軟鍵盤設(shè)置對(duì)應(yīng)大小，如圖所示：
操作步驟
第1步：源類型選擇、2線/4線、前后面板切換、是否保存結(jié)果分別單擊對(duì)應(yīng)選項(xiàng)框和下拉框內(nèi)容，切換后界面如圖所示：
第2步：開始值、結(jié)束值、掃描點(diǎn)數(shù)、限值和延時(shí)大小都通過點(diǎn)擊選項(xiàng)框后出現(xiàn)的軟鍵盤設(shè)置對(duì)應(yīng)大小，如圖所示：
第3步：掃描點(diǎn)類型以及各值的單位設(shè)置，如圖所示點(diǎn)擊對(duì)應(yīng)下拉框：
第4步：等待完成后生成對(duì)應(yīng)的曲線圖，這里以掃描二極管曲線為例，如圖所示：
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