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布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2024/6/19 12:01:53
  • 訪問(wèn)次數(shù) 918

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過(guò)程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,航天,汽車,電氣

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500是世界上全面的快速,非接觸式3D表面計(jì)量自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的自動(dòng)傾斜光學(xué)測(cè)頭,可以編程并自動(dòng)測(cè)試一定角度范圍內(nèi)的表面特征,并能減少跟蹤誤差。

滿足計(jì)量要求,具有高Z軸分辨率和準(zhǔn)確性,并在更小的占地面積內(nèi)提供了布魯克的白光干涉儀落地式型號(hào)所有業(yè)界*的優(yōu)點(diǎn)。


借助其新的USI通用掃描模式,本產(chǎn)品可以輕松地針對(duì)各種復(fù)雜應(yīng)用場(chǎng)景定制分析方法。這些場(chǎng)景涵蓋了從精密加工表面和半導(dǎo)體工藝制程,到眼科和MEMS器件的R&D表征,可用于表面粗糙度,RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測(cè)試。

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500高級(jí)自動(dòng)化功能:

專有的自動(dòng)傾斜測(cè)頭為生產(chǎn)和監(jiān)測(cè)提供了靈活性。通過(guò)將自動(dòng)傾斜測(cè)頭與光學(xué)裝置耦合在顯微鏡上,布魯克實(shí)現(xiàn)了測(cè)試位置不受傾斜角度影響的測(cè)量。進(jìn)一步結(jié)合自動(dòng)樣品臺(tái)和物鏡塔臺(tái),使得ContourX-500非常適合“按需測(cè)量”工業(yè)要求,且占用空間小。

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500


*進(jìn)的臺(tái)式三維形貌計(jì)量設(shè)備:

與放大倍率無(wú)關(guān)的Z軸分辨率

自動(dòng)化功能,包含帶編碼器的XY軸樣品臺(tái)、自動(dòng)測(cè)頭傾斜和自動(dòng)亮度調(diào)整

更緊湊的氣動(dòng)減震臺(tái)設(shè)計(jì)



布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500


測(cè)量與分析功能:

易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

廣泛的自動(dòng)化功能,可量身定制測(cè)量和分析程序

*泛的濾鏡和分析工具

滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告




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