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Park NX20 全自動(dòng)大樣品臺(tái)原子力顯微鏡

參考價(jià) 1500000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京伊微視科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) Park NX20
  • 產(chǎn)地 韓國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2021/4/13 14:02:40
  • 訪問(wèn)次數(shù) 896

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


  北京伊微視科技有限公司成立于2020年,是一家實(shí)驗(yàn)室設(shè)備*和測(cè)試服務(wù)的供應(yīng)商。專注于高精度形貌檢測(cè)設(shè)備及耗材,便攜式現(xiàn)場(chǎng)偵檢設(shè)備,測(cè)試服務(wù)。

  伊微視依托在各高校及科研單位的服務(wù)經(jīng)驗(yàn),為客戶提供更合適的設(shè)備及技術(shù)服務(wù)。公司主要產(chǎn)品有韓國(guó)帕克原子力顯微鏡,美國(guó)Zygo表面輪廓儀,PE ICP-MS,各品牌AFM探針及云母片,及個(gè)性化科研測(cè)試服務(wù),如FIB測(cè)試,TERS測(cè)試等。

  伊微視專注于開(kāi)發(fā)更多優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,更專業(yè)的技術(shù)服務(wù)。致力于成為微納形貌設(shè)備及測(cè)試的有鮮明特色的供應(yīng)商。

AFM,ICP-MS,光學(xué)輪廓儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子

全自動(dòng)大樣品臺(tái)原子力顯微鏡

缺陷分析的佳選擇

作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器,其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng)。200mm樣品全尺寸自動(dòng)測(cè)量,無(wú)需人工操作。

強(qiáng)大全面的分析功能

可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。精密度為您帶來(lái)高分辨率數(shù)據(jù),讓您能夠更加專注于工作。與此同時(shí),真正非接觸掃描模式讓探針針尖更耐用,無(wú)需為頻繁更換探針而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢(qián)。

即便是*接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業(yè)界為便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面,讓你在使用時(shí)無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力,也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者。借助這一系列特點(diǎn),您可以更加專注于解決更為重大的問(wèn)題,并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效分析報(bào)告。

全自動(dòng)大樣品臺(tái)原子力顯微鏡

FA和研究實(shí)驗(yàn)室提供形貌測(cè)量解決方案

缺陷檢查成像和分析

高分辨率電子掃描模式

對(duì)樣品和基片進(jìn)行表面粗糙度測(cè)量

樣品側(cè)壁三維結(jié)構(gòu)測(cè)量

低噪音Z探測(cè)器可準(zhǔn)確測(cè)量AFM表面形貌

非接觸模式,降低針尖磨損,減少換探針時(shí)間

非接觸模式下的快速缺陷成像

業(yè)內(nèi)三維結(jié)構(gòu)測(cè)量的解耦XY掃描系統(tǒng)

通過(guò)使用熱匹配的組件,盡量減少系統(tǒng)漂移和遲滯現(xiàn)象

低噪聲Z探測(cè)器可準(zhǔn)確測(cè)量AFM表面形貌

業(yè)界低噪聲Z檢測(cè)器測(cè)量樣品表面形貌

沒(méi)有過(guò)沿過(guò)沖和壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌

即使是高速掃描也可以保持準(zhǔn)確的表面高度

行業(yè)前向和后向掃描間隙橫向漂移小于0.15%

全自動(dòng)大樣品臺(tái)原子力顯微鏡

用真正的非接觸掃描方式節(jié)省成本

在一般用途和缺陷成像中,具有普通掃描模式10倍或更長(zhǎng)的針尖使用壽命減少針尖摩損

真實(shí)的再現(xiàn)樣品微觀三維形貌,減少樣品在掃描過(guò)程中的損壞或變形。

行業(yè)低噪聲Z軸探測(cè)器

超低噪聲Z探測(cè)器,噪音水平低于0.02nm,從而達(dá)成非常樣品形貌成像,沒(méi)有邊沿過(guò)沖無(wú)須校準(zhǔn)。 NX20為您提供好的數(shù)據(jù)同時(shí)也為您節(jié)省寶貴的時(shí)間

真正非接觸模式可保護(hù)針尖鋒利度

原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱,在掃描過(guò)程中,針尖磨損會(huì)逐漸降圖片質(zhì)量和分辨率。測(cè)量表面軟的樣品時(shí),針尖也會(huì)破壞樣品并生成不準(zhǔn)確的樣品高度測(cè)量數(shù)據(jù)。作為Park原子力顯微鏡*的一種掃描模式,真正非接觸模式™可持續(xù)獲得高分辨率且準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),同時(shí)保持針尖的完整性。

 

全自動(dòng)大樣品臺(tái)原子力顯微鏡NX20

凝聚著具創(chuàng)新的AFM技術(shù)

100 μm x100 μm掃描范圍的XY平板掃描器

XY平板掃描器,采用壓電堆棧設(shè)計(jì),減少傳統(tǒng)掃描過(guò)程中XY的正交影響,具有高速的影響頻率,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的樣品納米級(jí)掃描。

高速Z軸掃描器,掃描范圍達(dá)15μm

高強(qiáng)度壓電堆棧和饒性設(shè)計(jì),標(biāo)準(zhǔn)Z軸掃描器的共振頻率大于9kHz(一般為10.5kHz)且探針的Z軸掃描速率不低于48mm/秒。 Z軸大掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的15μm擴(kuò)展至30μm(長(zhǎng)范圍Z掃描頭)。

低噪聲XYZ位置傳感器

低噪聲XYZ閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

 

集成編碼器的XY自動(dòng)樣品載品

編碼器可用于所有自動(dòng)樣品載臺(tái),并可保證更高的重復(fù)定位精度,從而可更準(zhǔn)確地控制樣品測(cè)量位置。XY馬達(dá)動(dòng)工作時(shí)分辨率為1μm,重復(fù)率為2μm。Z馬達(dá)運(yùn)動(dòng)的分辨率為0.1μm,重復(fù)率為1μm。

自動(dòng)多點(diǎn)樣品掃描

借助驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),可編程步進(jìn)掃描,多區(qū)域成像,以下是它的工作流程:

1.掃描成像

2.抬起懸臂

3.移動(dòng)驅(qū)動(dòng)平臺(tái)到設(shè)定位置

4.進(jìn)針

5.重新設(shè)定位置掃描成像

該自動(dòng)化功能大大減少掃描過(guò)程中人工的移動(dòng)樣品,從而縮短測(cè)試時(shí)間,提高生產(chǎn)率。

操作方便的樣品臺(tái)

特殊的頭部設(shè)計(jì),可使用從側(cè)面操作樣品及探針,根據(jù)所選擇樣品臺(tái)的行程范圍,用品在樣品臺(tái)上可放置的大樣品直徑200mm。

用于拓展掃描模式易插拔擴(kuò)展槽

你只需要將可選模塊插入擴(kuò)展槽,便可激活拓展掃描顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊化設(shè)計(jì),其產(chǎn)品線的配置兼容性大大提高

同軸高功率光學(xué)集成LED照明和CCD系統(tǒng)

掃描頭滑動(dòng)嵌入式設(shè)計(jì)

你只需滑動(dòng)嵌入燕尾導(dǎo)執(zhí)便可輕松更換原子力顯微鏡掃描頭。該設(shè)計(jì)可將掃描頭自動(dòng)鎖定至預(yù)對(duì)準(zhǔn)的位置,無(wú)須調(diào)節(jié)激光位置,激光自動(dòng)投射在針尖上。借助于鄉(xiāng)優(yōu)異的四象限檢測(cè)器,顯微鏡可準(zhǔn)確成像并可準(zhǔn)確測(cè)定力,距離曲線。

自動(dòng)Z軸移動(dòng)和聚焦系統(tǒng)

高度限行Z軸移動(dòng)和聚焦系統(tǒng),可以得到清晰的視野和圖像,用戶通過(guò)軟件界面進(jìn)行操作,由高精度步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng),即使液體或者透明樣品也可快速找到樣品表面。

高速24位數(shù)字電子控制器

所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進(jìn)行控制和處理。該控制器是個(gè)全數(shù)字,24位高速控制器,可確保True Non-ContactTM模式下的成像精度和速度。憑借著低噪音設(shè)計(jì)和高速處理單元,該控制器也是納米成象和準(zhǔn)確電壓、電流測(cè)量的選擇。嵌入式數(shù)字信號(hào)處理為原子力顯微鏡帶來(lái)更為豐富的功能,更好的解決方式,是資深研究員的佳選擇。

XY.Z軸檢測(cè)器的24位信號(hào)分辨率

XY軸的小分辨率為0.003nm (50 μm XY掃描器)

Z軸的小分辨率為0.001nm (50 μm Z掃描器)

嵌入式數(shù)字信號(hào)處理功能

三個(gè)鎖相放大器

探針彈簧系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)

數(shù)字化Q控制

集成式信號(hào)端口

可編程信號(hào)輸入/輸出端口

7個(gè)輸入端口和3個(gè)輸出端口

 

世界上容易操作的AFM

簡(jiǎn)單的探針和樣品更換

*的設(shè)計(jì)讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中于預(yù)先校準(zhǔn)的探針位置,無(wú)須再進(jìn)行繁瑣的激光調(diào)節(jié)工作。

帶有兩級(jí)反饋系統(tǒng)的閉環(huán)XY掃描器

XY掃平板掃描器的每個(gè)軸上的低噪聲位移傳應(yīng)器,可以在進(jìn)行大掃描范圍時(shí)提高樣本掃描正交性。次級(jí)傳感器會(huì)對(duì)非線性和非平面位置錯(cuò)誤進(jìn)行補(bǔ)償,真實(shí)的還原樣品的形貌。

閃電般快速的自動(dòng)進(jìn)針

自動(dòng)的探針樣品進(jìn)針功能能讓用戶無(wú)需進(jìn)行干預(yù)操作。通過(guò)監(jiān)測(cè)懸臂接近表面的反應(yīng),Park NX20能夠在探針裝載后,十秒內(nèi)自動(dòng)快速完成探針進(jìn)針操作。高速、軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號(hào)處理使得探針無(wú)需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。

主動(dòng)溫控隔音罩

專為Park NX20設(shè)計(jì)的隔音罩,主動(dòng)進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)功能,保證側(cè)試環(huán)境在一個(gè)*穩(wěn)定的熱環(huán)境中。 Park NX20 還具有主動(dòng)隔振功能,*與外界的聲、光噪聲隔離,因此測(cè)試的準(zhǔn)確性將不受到外界干擾。

操作簡(jiǎn)單-創(chuàng)新的控制設(shè)計(jì)使Park NX20能夠快速達(dá)于溫度平衡

節(jié)省操作時(shí)間-關(guān)閉隔音罩10分鐘內(nèi)可保持測(cè)試環(huán)境低于0.05°C的溫差

 



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