Gom三維藍(lán)光掃描儀，非接觸式三維光學(xué)掃描 測(cè)量原理
ATOS Compact Scan 8M由左右兩個(gè)高分辨率的工業(yè)CCD 相機(jī)和*光柵投影單元組成，采用結(jié)構(gòu)光測(cè)量的方式, 由光柵投影單元將一組具有相位信息的光柵條紋投影到測(cè)量工件表面，左右兩個(gè)相機(jī)進(jìn)行同步的測(cè)量，利用立體相機(jī)測(cè)量的原理，可以在1秒時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確獲得800 萬(wàn)個(gè)高密度的三維數(shù)據(jù)點(diǎn)；具有自動(dòng)識(shí)別參考點(diǎn)和自動(dòng)拼接技術(shù)，將不同位置和角度的測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)齊在統(tǒng)一的坐標(biāo)系，獲得完整零件的掃描結(jié)果。利用隨機(jī)配備的標(biāo)定工具，可對(duì)ATOS 掃描頭的精度進(jìn)行標(biāo)定。由于采用雙目測(cè)量技術(shù)，可對(duì)每幅測(cè)量過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)和診斷：
監(jiān)測(cè)掃描過(guò)程中掃描頭或被測(cè)零件的振動(dòng)
檢查坐標(biāo)對(duì)齊精度
監(jiān)測(cè)測(cè)量環(huán)境（光線）的變化
在線跟蹤掃描頭空間位置

Gom三維藍(lán)光掃描儀，非接觸式三維光學(xué)掃描 系統(tǒng)功能
采用藍(lán)色LED冷光源，拍照時(shí)不會(huì)引起工件表面溫度上升，同時(shí)LED光源壽命很長(zhǎng)，并且受環(huán)境光或自然光的影響很小；
軟件與測(cè)量機(jī)同一品牌原廠開(kāi)發(fā)，兼容性好，包含標(biāo)定、掃描、檢測(cè)、相機(jī)定位系統(tǒng)、檢測(cè)報(bào)告等功能；
景深很大，MV600鏡頭達(dá)到420mm，對(duì)于一些復(fù)雜部位或者深孔、凹槽等掃描效果好；
對(duì)于反光面或者明暗反差比較大的工件，可以設(shè)置多次曝光時(shí)間，以獲取不同明亮程度的工件表面數(shù)據(jù)，提高檢測(cè)效率；
可測(cè)特征：平面、圓、圓柱、圓錐、圓孔、復(fù)雜曲面、棱邊、窄溝槽、倒角、倒圓弧、兩面夾角根部等較小特征、槽、孔等特征檢測(cè)；
可評(píng)價(jià)形位公差：形狀公差的檢測(cè)，包括直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度、面輪廓度；方向公差的檢測(cè)，包括平行度、垂直度、傾斜度、線輪廓度、面輪廓度；位置公差的檢測(cè)，包括同心度、同軸度、對(duì)稱度、位置度、線輪廓度、面輪廓度；跳動(dòng)公差的檢測(cè)，包括圓跳動(dòng)、全跳動(dòng)等；
具有質(zhì)量檢測(cè)和偏差功能以及報(bào)告輸出；
測(cè)量點(diǎn)云可視化，軟件可實(shí)時(shí)顯示掃描頭位置以及掃描結(jié)果，便于操作人員實(shí)時(shí)監(jiān)控掃描情況；
測(cè)量設(shè)備可以在有固定參照物（檢具、工裝等）且零件有定位孔情況下采用固定坐標(biāo)系法、 RPS坐標(biāo)系法、擬合法建立坐標(biāo)系，在無(wú)固定參照物（檢具、工裝等）且零件有定位孔情況下采用RPS坐標(biāo)系法、擬合法建立坐標(biāo)系，在無(wú)固定參照物（檢具、工裝等）且零件無(wú)定位孔情況下擬合法建立坐標(biāo)系；
軟件在CAD數(shù)據(jù)上定義公差，自動(dòng)將理論CAD數(shù)據(jù)與實(shí)際數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，自動(dòng)進(jìn)行被測(cè)工件表面色差分析，提供超差點(diǎn)的數(shù)據(jù)信息?？梢钥焖贉y(cè)量零件的孔位、直徑，距離等基本幾何尺寸。可以根據(jù)程序自動(dòng)完成形位公差評(píng)價(jià)，如位置度、同軸度、對(duì)稱度等等；
需具有自我監(jiān)測(cè)功能：在數(shù)據(jù)采集過(guò)程中，可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)周?chē)饩€的變化、掃描頭的震動(dòng)、溫度的變化、掃描頭是否在標(biāo)定狀態(tài)等，以保證掃描精度；
鏡頭可更換，即可配置不同測(cè)量范圍的鏡頭，以滿足不同大小、不同精度要求的工件，更換鏡頭時(shí)間不操作1分鐘；
具有強(qiáng)大的點(diǎn)處理功能（多種點(diǎn)過(guò)濾方式）及視覺(jué)效果處理（點(diǎn)云可著色），測(cè)量結(jié)果，可以依據(jù)GD&T標(biāo)準(zhǔn)與數(shù)模進(jìn)行對(duì)比分析，不同超差區(qū)域可用不同顏色顯示；
設(shè)備對(duì)參考點(diǎn)要求不高，使用一般的黑白參考點(diǎn)，不使用價(jià)格昂貴的銀色反光參考點(diǎn)，并且軟件提供參考點(diǎn)模板，用戶可自行打印，減少后續(xù)使用成本；
提供GOM Inspect檢測(cè)軟件，無(wú)限制安裝，方便各部門(mén)進(jìn)行三維報(bào)告查看，同時(shí)，也可根據(jù)自身需要，自行檢測(cè)數(shù)據(jù)或者編輯報(bào)告。

Gom三維藍(lán)光掃描儀，非接觸式三維光學(xué)掃描 優(yōu)勢(shì)

精度
經(jīng)過(guò)德國(guó) PTB（德國(guó)聯(lián)邦物理研究院） 精度校驗(yàn)，滿足VDI/VDE 2634 標(biāo)準(zhǔn)；在短時(shí)間內(nèi)獲得復(fù)雜表面的密集點(diǎn)云，并可根據(jù)曲率變化計(jì)算出高質(zhì)量的網(wǎng)格面數(shù)據(jù)，獲得清晰的細(xì)節(jié)特征；
速度
具有技術(shù)專的高速光柵投影技術(shù)，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量，每幅測(cè)量時(shí)間約1s，可得到800萬(wàn)點(diǎn)數(shù)據(jù)；
可操作性
中文界面，簡(jiǎn)單易用，穩(wěn)定耐用；可在一次測(cè)量過(guò)程中采取多次曝光，適合掃描表面顏色不均勻和深色零件；
靈活性
非接觸式測(cè)量，適合不同材料零件；*便攜的測(cè)量系統(tǒng)，滿足各種環(huán)境及惡劣條件下的測(cè)量需要；可方便地更換測(cè)量鏡頭，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量范圍（10mm － 20m），適合不同尺寸零件對(duì)測(cè)量分辨率（點(diǎn)云密度）的需要；

完整的解決方案
ATOS 所有軟/硬件均為GOM 公司自主開(kāi)發(fā)，具有良好的匹配性和完善的技術(shù)支持；可支持光筆（接觸式）測(cè)量及幾何特征適配器測(cè)量技術(shù)，滿足各種測(cè)量需要；GOM Inspect 質(zhì)量分析和評(píng)估軟件可實(shí)現(xiàn)讀取和編輯測(cè)量計(jì)劃，誤差分析和評(píng)估，檢測(cè)報(bào)告輸出的完整流程； 

技術(shù)參數(shù)：