F10-HC Filmetrics 薄膜厚度測量儀
- 公司名稱 岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 F10-HC
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/9 13:27:56
- 訪問次數(shù) 2173
聯(lián)系方式:岱美儀器13917837832 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 |
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 F10-HC
以F20平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設(shè)計(jì),能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。
前所未見的簡易操作界面
現(xiàn)在,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用,這個(gè)功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁),并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)通知使用者本次測量結(jié)果是否有效,并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。
不需要手動(dòng)基準(zhǔn)校正
F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動(dòng)化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時(shí)間這個(gè)創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。
背面反射干擾
背面反射干擾對厚度測量而言是一個(gè)光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn),具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響小化,使用者能以較高的準(zhǔn)確度來測量涂層厚度。
附 加 特 性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費(fèi)離線分析軟件
• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲(chǔ),重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果