Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

Dimension Edge 原子力顯微鏡

Dimension家族新成員，閉環(huán)掃描，*性價比

快速測量、結(jié)果準確、圖像分辨率高

測試范圍廣，適用于任何樣品的測試

*進的納米尺度測量，適用于各技術(shù)水平

Dimension Edge

性價比高，大樣品臺AFM的解決方案

Dimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù)， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平?；贒imension Icon®平臺, Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計使其 具有低漂移、低噪音的特點, 大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性，使用這臺全新的儀器，幾分鐘時間即可獲得高質(zhì)量、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù)。這些檢測性能的提高，并沒有影響儀器，低于您對如此高性能原子力顯微鏡的支出預算。此外，視覺反饋集成化和預配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測量結(jié)果。整套儀器充滿人性化的設(shè)計，適用于各個研究階段和科研水平的用戶。

Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

性價比高的閉環(huán)Dimension系列AFM

傳感器設(shè)計既獲得了閉環(huán)的精度，又具有 開環(huán)的噪音水平。

顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺AFM上實現(xiàn) 了小樣品臺AFM的成像性能。

顯微鏡和電路的設(shè)計既保證了高成像性能。

快速，高分辨的測量結(jié)果

全新的可視化操作界面,整體采用流程式設(shè)計，確保快速簡便的設(shè)定各步驟參數(shù)

5百萬像素 的高分辨率相機和馬達驅(qū)動可編程平臺，提供快速樣品導航和高效多點測量

從大范圍掃描到高分辨檢測的無縫過渡 可在短時間內(nèi)獲得準確結(jié)果。

適用于任何樣品上的任何應用的解決方案

開放式平臺設(shè)計可適應各種實驗和樣品的需求。

新儀器的設(shè)計和軟件利用了完備的Bruke  AFM掃描模式和檢測技術(shù)，滿足前沿的應用需求。

內(nèi)置的信號路由模塊，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實驗需求，自定義檢測模式。

*進的納米級測量能力，適用于各研究水平

創(chuàng)新型模塊化設(shè)計，不提高儀器成本的前提下，實現(xiàn)更高的測量性能。

8型軟件，凝聚10幾年AFM專業(yè)研發(fā)精華，常規(guī)掃描模式外，根據(jù)實驗需求，配備各種備選模式。

完整的控制平臺，既可直觀導航，又可進行強大的編程控制。

DIMENSION系列AFM提供了優(yōu)質(zhì)的AFM性能

Dimension Edge原子力顯微鏡既具有好性能，保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新，中等價位與儀器功能達到了好的平衡。其中核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描，結(jié)合溫度補償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個化學鍵長度。為了大限度的發(fā)揮這一優(yōu)點，掃描器被固定在一個堅固的，具有漂移補償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率，高精度，大樣品臺的樣品通用性，閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺、開環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點，能夠獲得任何樣品的真實圖像，實現(xiàn)突破性的實驗成果。

完備的AFM功能

Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker技術(shù)，還提供了針對各種具體應用領(lǐng)域的解決方案，例如納米級的電學測量，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應用中獲得成像和單點譜線測量，例如從太陽能和半導體器件的表征和多相聚合物材料成像，到從單分子到全細胞的生命科學樣品的原位成像和單個納米顆粒的研究。

電學表征

Dimension Edge不僅僅是把一個AFM探針連接到低噪音電流放大器上，而是開發(fā)了Dark Lift模式，Dark Lift是在導電原子力數(shù)據(jù)把光電效應從樣品的本征電導性中清晰分離的方法。它是基于布魯克的，應用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢成像應用的優(yōu)化測試。迄今為止，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對摻雜濃度表征的解決方案。然而，如果研究者想要以高靈敏度來探測小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢顯微鏡結(jié)合起來。Dimension Edge系統(tǒng)通過雙頻的方法，能夠為任何靜電電勢成像的應用提高理想的解決方案。