布魯克nanoIR AFM紅外原子力顯微鏡
- 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2023/1/8 15:38:47
- 訪問次數(shù) 2407
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 定位檢測噪聲 | 0.2nm |
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價格區(qū)間 | 面議 | 樣品尺寸 | 150mmmm |
樣品臺移動范圍 | 100mmx100mmmm*mm | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,冶金,航天 |
Bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。
光熱誘導(dǎo)技術(shù)實現(xiàn)10nm超高化學(xué)分辨率和高信噪比納米紅外光譜
高性能納米級 FTIR 光譜
只有 nanoIR3-s 能夠提供:
高性能納米級 FTIR 光譜
高性能紅外近場光譜,采用目前*進的納米紅外激光源
納米級 FTIR 光譜,采用集成式DFG,可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源
點光譜技術(shù)
POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個波長的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單:
·在 AFM 圖像中選擇要測量的特征
·測量樣品的波譜,選擇感興趣的波長
·采集高分辨光學(xué)屬性圖
根據(jù)對多個波長的干涉圖的快速測量,獲得空間分辨率達到 10nm 的振幅和相位圖像 實現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR,用于互補性紅外光譜分析。