IM4000型離子研磨儀系統(tǒng)

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柯岷貿(mào)易（上海）有限公司

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鎢燈絲電鏡（SEM）場(chǎng)發(fā)射電鏡（SEM）臺(tái)式電鏡（SEM）聚焦離子束系統(tǒng)（FIB）透射電子顯微鏡（TEM）離子研磨機(jī) 離子濺射儀便攜式顯微相機(jī)

IM4000型離子研磨儀系統(tǒng)低加速電壓觀察時(shí)分辨率更高，可更好地觀察樣品表面的細(xì)微形狀和更有效地降低樣品的損壞
IM4000型離子研磨儀系統(tǒng)全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和信號(hào)處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比^＊2，自動(dòng)功能縮短^＊3了大約11秒
具有在低真空時(shí)可以非常好地觀察樣品表面的細(xì)微形狀的“UVD（超高靈敏度可變壓力探測(cè)器）”^＊4
具有實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”^＊4

^（*2）：和日立SEM S-3400N相比
^（*3）：根據(jù)觀察條件的不同，時(shí)間會(huì)有變動(dòng)

具有實(shí)現(xiàn)了“3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”^＊1, 以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器”^＊1。