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D8 ADVANCE 布魯克X射線衍射儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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布魯克AXS公司1997年以前屬西門子X射線分析儀器部,現(xiàn)屬于布魯克集團(tuán)子公司,生產(chǎn) 基地及研發(fā)應(yīng)用中心位于德國卡爾司魯厄市,在西門子工業(yè)園區(qū)。從1895年倫琴發(fā)現(xiàn)X射線,布魯克AXS公司開始生產(chǎn)X射線光管,從1920年開始生產(chǎn)X射線分析儀器,幾十年來,布魯克AXS公司一直領(lǐng)導(dǎo)著X射線分析儀器的潮流。

布魯克AXS公司的產(chǎn)品有X射線熒光光譜儀、多晶X射線衍射儀、單晶X射線衍射儀,和三維X射線顯微鏡,是專業(yè)生產(chǎn)X射線分析儀器的廠家,因此她將全部的精力都投入到產(chǎn)品的研究與開發(fā)上。布魯克AXS公司的產(chǎn)品一直以結(jié)實(shí)、穩(wěn)定、耐用、性能*著稱,無論是硬件還是軟件,始終都處于優(yōu)勢地位。

 

 

 

 

X射線多晶衍射儀,X射線單晶衍射儀,X射線熒光光譜儀,三維X射線顯微鏡

價格區(qū)間 面議 儀器種類 單晶衍射儀
應(yīng)用領(lǐng)域 電子

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供全球保證!

先進(jìn)的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。

 

D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀技術(shù)指標(biāo):                                              

●Theta/theta 立式測角儀

●2Theta角度范圍:-110~168°

●角度精度:0.0001度

●Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管

●探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

●儀器尺寸:1868x1300x1135mm

●重量:770kg

 

D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀主要功能

●TWIN / TWIN 光路

布魯克TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,且無需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

●動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)

布魯克DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)——尤其是在低2Θ角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

●LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有高計數(shù)率和好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實(shí)出色,是市面上性能好的的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強(qiáng)度的二級單色器。

布魯克提供LYNXEYE XE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!

 

應(yīng)用:

●物相定性分析

●結(jié)晶度及非晶相含量分析

●結(jié)構(gòu)精修及解析

●物相定量分析

●點(diǎn)陣參數(shù)精確測量

●無標(biāo)樣定量分析

●微觀應(yīng)變分析

●晶粒尺寸分析

●原位分析

●殘余應(yīng)力

●低角度介孔材料測量

●織構(gòu)及ODF分析

●薄膜掠入射

●薄膜反射率測量

●小角散射


 

 

 



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