Ni/Al,Ni/Cu,Ni/Fe 手持式光譜儀用鍍鎳厚度標準片
- 公司名稱 上海益朗儀器有限公司
- 品牌 Calmetrics/美國
- 型號 Ni/Al,Ni/Cu,Ni/Fe
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2020/3/26 14:33:17
- 訪問次數(shù) 919
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涂鍍層測厚儀,涂鍍層標準片,水質(zhì)簡易測定器,輻射測量表,哈氏槽實驗設(shè)備,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,離子污染測試儀,硫酸根快速測定儀,水質(zhì)分析儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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手持式光譜儀用鍍鎳厚度標準片
手持式光譜儀用鍍鎳厚度標準片是通過濺射或電鍍方法將高純度鎳沉積在基材上。是用于校準便攜式手持XRF設(shè)備,以測量基材上鍍鎳的產(chǎn)品。手持式光譜儀用厚度標準片是堅固不易彎曲的材料,安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上,以方便手持XRF儀器的定位和校準。
鋁上鍍鎳厚度標準片 Ni/Al (Nickel/Aluminum) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Ni/Al,理論厚度:20微英寸(0.5微米)
Ni/Al,理論厚度:60微英寸(1.5微米)
Ni/Al,理論厚度:100微英寸(2.5微米)
Ni/Al,理論厚度:150微英寸(3.75微米)
Ni/Al,理論厚度:250微英寸(6.25微米)
Ni/Al,理論厚度:750微英寸(18.75微米)
Ni/Al,理論厚度:900微英寸(22.5微米)
銅上鍍鎳厚度標準片 Ni/Cu (Nickel/Copper) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Ni/Cu,理論厚度:10微英寸(0.25微米)
Ni/Cu,理論厚度:20微英寸(0.5微米)
Ni/Cu,理論厚度:40微英寸(1微米)
Ni/Cu,理論厚度:50微英寸(1.25微米)
Ni/Cu,理論厚度:60微英寸(1.5微米)
Ni/Cu,理論厚度:80微英寸(2微米)
Ni/Cu,理論厚度:100微英寸(2.5微米)
Ni/Cu,理論厚度:120微英寸(3微米)
Ni/Cu,理論厚度:200微英寸(5微米)
Ni/Cu,理論厚度:300微英寸(7.5微米)
Ni/Cu,理論厚度:400微英寸(10微米)
Ni/Cu,理論厚度:600微英寸(15微米)
Ni/Cu,理論厚度:800微英寸(20微米)
鐵上鍍鎳厚度標準片 Ni/Fe (Nickel/Iron) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Ni/Fe,理論厚度:70微英寸(1.75微米)
Ni/Fe,理論厚度:100微英寸(2.5微米)
Ni/Fe,理論厚度:150微英寸(3.75微米)
Ni/Fe,理論厚度:200微英寸(5微米)
Ni/Fe,理論厚度:300微英寸(7.5微米)
Ni/Fe,理論厚度:400微英寸(10微米)
Ni/Fe,理論厚度:700微英寸(17.5微米)
Ni/Fe,理論厚度:900微英寸(22.5微米)
Ni/Fe,理論厚度:1000微英寸(25微米)
以上為常用厚度,如需要特殊厚度或需要其他基材,請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。