Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器
- 公司名稱 增宜檢測技術（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2023/6/29 12:52:39
- 訪問次數(shù) 1358
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增宜檢測技術（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設備，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務的一站式集成供應商。公司代理許多上享譽*的先進產(chǎn)品。
我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設備。
我們的產(chǎn)品廣泛應用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風電、核工業(yè)、軍工、特檢和高?？蒲械榷鄠€行業(yè)領域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經(jīng)營宗旨，崇尚“專業(yè)，高效，共贏”的服務理念，為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)的服務。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產(chǎn)品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內(nèi)窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,冶金,航天,汽車 |
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Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器
無損檢測（NDT）
Varex提供從工業(yè)X射線管到線性加速器，從工業(yè)平板探測器到成像軟件的無損檢測（NDT）解決方案。
非破壞性測試（也稱為非破壞性成像（NDI））是一種成像分析，涵蓋了廣泛的應用程序，可在不破壞材料本身的情況下評估材料的性能。 要求無損檢測的一些應用包括：
- 鑄造檢查
- 焊接和管道成像
- 電子檢查
我們種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為無損檢測應用提供了廣泛的目標角度，焦點和功率功能。 對于需要不同參數(shù)和高分辨率成像的檢查操作，Varex提供了具有小焦點的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹（Be）的X射線管，用于低固有過濾。 這項技術可幫助專業(yè)人士分析管道和其他工業(yè)結(jié)構(gòu)的完整性，而不會損壞所討論的材料或系統(tǒng)。
Varex工業(yè)平板探測器還設計用于滿足廣泛的非破壞性測試應用。 通過提供各種尺寸的產(chǎn)品，我們的檢測器有助于防止幾何變形并*地減小磁場和輻射的影響。 我們的探測器技術使我們的客戶能夠利用的數(shù)字圖像質(zhì)量，高通量和CT功能。 這些檢測器可在整個視場中呈現(xiàn)均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術人員可以拍攝更高質(zhì)量的圖像。 由于我們的平板檢測器可以捕獲數(shù)字圖像并消除膠片需求，因此可以在更短的時間內(nèi)捕獲更多圖像。
如果您的非破壞性測試需求要求您對需要更高能量的大型結(jié)構(gòu)進行成像，那么我們的線性加速器是一種出色的解決方案，可幫助您對像火箭和其他航空航天產(chǎn)品一樣大的物體成像。
滿足您的無損檢測需求的成像解決方案
工業(yè)X射線管
工業(yè)平板探測器
直線加速器
計量與材料科學
材料科學和計量X射線系統(tǒng)提供了用于制造各種組件的測量解決方案，從微型和宏觀零件到大型發(fā)動機和風力渦輪機，都變得更加堅固，安全和節(jié)能。
什么是材料科學？ 從原子尺度看材料的結(jié)構(gòu)并進行直接的結(jié)構(gòu)測量。 有多種測量材料的X射線方法-包括計量，熒光，衍射和晶體學。 計量是指獲取一組組件的CT圖像以對其進行測量，對組件進行大量測試（例如應力，熱循環(huán)和濕度），然后獲取另一組CT圖像并分析變化的過程。 X射線衍射和晶體學用于鑒定材料的原子特性。 X射線被晶體中原子的規(guī)則三維排列衍射，然后通過成像板或檢測器記錄所得的衍射圖樣。 從衍射圖樣可以診斷出它是一種特殊的材料。 將衍射圖與計算機數(shù)據(jù)庫中的衍射圖進行比較，以找到匹配結(jié)果。 XRF（X射線熒光）是一種無損分析技術，用于確定材料的元素組成。 XRF分析儀通過測量樣品在一次X射線源激發(fā)下發(fā)出的熒光（或二次）X射線來確定樣品的化學性質(zhì)。 它用于測試金屬和涂層的厚度。
從科學研究到工業(yè)質(zhì)量控制（例如：航空航天業(yè)的渦輪機鑄件質(zhì)量檢查），我們的X射線組件都增強了測量技術，可確保在需要高精度的任何地方達到高質(zhì)量標準。 和他們的：
- 高動態(tài)范圍和對比度
- 高飽和劑量
- 低劑量時具有高靈敏度和對比度
- CMOS檢測器的高速和低延遲
- 低噪聲
- 能量范圍廣，目標材料不同
- Varex Imaging X射線平板探測器和顯像管為許多科學X射線應用提供了明顯的優(yōu)勢。
滿足您的材料科學需求的成像解決方案
工業(yè)平板探測器
工業(yè)X射線管
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