化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測(cè)量?jī)x>光度儀/霧度儀/光澤度儀> 德國(guó)byk光澤度儀BYK micro-gloss全國(guó)熱銷
德國(guó)byk光澤度儀BYK micro-gloss全國(guó)熱銷
- 公司名稱 篤摯儀器(上海)有限公司
- 品牌 BYK/德國(guó)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/18 15:03:39
- 訪問(wèn)次數(shù) 1921
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 手動(dòng) |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
德國(guó)BYK 4440、4442、4444、4446光澤度儀,德國(guó)BYK微型三角度光澤度儀MICRO-TRI-GLOSS 德國(guó)BYK微型三角度光澤儀μ型 MICRO-TRI-GLOSS μ 詢價(jià) 德國(guó)BYK 微型光澤度儀 S系列4565/4566 詢價(jià) 德國(guó)BYK micro-gloss 60°XS微型光澤度儀。 德國(guó)BYK光澤度儀 德國(guó)BYK公司便攜式光澤儀測(cè)量適合于任何應(yīng)用:無(wú)論是特定的應(yīng)用還是從高到低光澤樣品的綜合測(cè)量,BYK-Gardner 公司可提供全套的便攜式光澤儀,微型光澤儀系列。其獨(dú)*無(wú)*的性能和優(yōu)勢(shì)使其成為光澤測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。
光澤度儀,也叫光澤儀,是用來(lái)測(cè)定陶瓷、油漆、油墨、塑料、大理石、鋁、五金等材料表面光澤度的儀器。高精度光澤度儀按照角度分為高光澤、中光澤和低光澤三種類型。德國(guó)byk,專業(yè)的光澤度儀生產(chǎn)廠家,提供單角度,三角度,微孔光澤度儀,byk 光澤度儀。,篤摯儀器為您提供有競(jìng)爭(zhēng)力的光澤度儀報(bào)價(jià)和光澤度儀使用指導(dǎo)。 |
微型光澤儀多年來(lái)一直是光澤度測(cè)量領(lǐng)域的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。智能功能和直觀的菜單操作與新款、明亮的彩色顯示使光澤測(cè)量成為一項(xiàng)簡(jiǎn)單的任務(wù)。的溫度控制性能和儀器間一致性確保始終可靠的質(zhì)量控制。此外,smart-chart 軟件是智能通信的理想工具,具有專業(yè)的文檔管理和高效的數(shù)據(jù)分析。
針對(duì)專門(mén)應(yīng)用的單角度光澤度儀 BYK4560 /BYK4561 / BYK4562 | |
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三角度光澤儀,在正確的角度下觀察光澤變化 BYK4446/ byk4563 | |
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一個(gè)設(shè)備可同時(shí)測(cè)量光澤度和涂層厚度 µ bYK4564 | |
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byk4565、byk4566用于嚴(yán)格規(guī)范的光澤儀,確保內(nèi)飾件光澤度和諧統(tǒng)一 | |
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小部件用小口徑光澤儀XS系列 BYK4569/byk4570 | |
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功能 |
一、彩屏顯示 四、智能測(cè)量模式滿足不同任務(wù)的需要 連續(xù)測(cè)量模式 是快速檢查大面積樣品的均質(zhì)性有效的方法。您確定好測(cè)量間隔后將微型光澤儀在樣品上持續(xù)滑行,即刻得到連續(xù)測(cè)量結(jié)果。測(cè)量結(jié)束后,屏幕顯示平均值、大/小值的范圍。 |
訂購(gòu)信息 | |||||
型號(hào) | 名稱 | 角度 | 應(yīng)用 | 測(cè)量面積 | |
4560 | 新微型光澤儀20° | 20° | 高光澤 | 10x10mm | |
4561 | 新微型光澤儀60° | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
4562 | 新微型光澤儀85° | 85° | 低光澤 | 5x38mm | |
4563 | 新微型三角度光澤儀 | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見(jiàn)各角度 | |
4564 | 新微型三角度光澤儀μ | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見(jiàn)各角度 | |
4565 | 新微型光澤儀60°S | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
4566 | 新微型三角度光澤儀S | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見(jiàn)各種角度 | |
4567 | 新微型光澤儀45° | 45° | 陶瓷,塑料,薄膜 | 9x13mm | |
4568 | 新微型光澤儀75° | 75° | 紙張,聚乙烯 | 7x24mm | |
4569 | 新微型光澤儀60°XS | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
4570 | 新微型光澤儀60°XS-S | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
基本配置:主機(jī),校準(zhǔn)底座,可追溯的證書(shū),USB線纜,電池,操作手冊(cè) 攜帶箱 軟件下載:smart-lab Gloss或smart-process Gloss帶2個(gè)秘鑰 注意:軟件下載后,兩個(gè)軟件包可免費(fèi)試用30天。此后,用戶需要決定其中一個(gè)軟件并注冊(cè)。 延長(zhǎng)質(zhì)保服務(wù):請(qǐng)參見(jiàn)技術(shù)服務(wù)章節(jié) 系統(tǒng)需求: 操作系統(tǒng):32位:windows7SP1或8.1 Microsoft.&&& Framework 4 硬件:推薦Core 2 Duo,2.2GHz,i7或相當(dāng)?shù)呐渲?/span> 內(nèi)存:4GB RAM,推薦8GB 硬盤(pán)可用空間:zui少300MB 顯示器分辨率:1280x1024像素或更高 端口:可用的USB端口 | 測(cè)量范圍1 | 0-100GU | 100-2000GU | ||
重復(fù)性2 | ±0.2GU | ±0.2% | |||
重現(xiàn)性2 | ±0.5GU | ±0.5% | |||
光譜敏感度 | CIE standard observer for illuminant CIE-C | ||||
測(cè)量時(shí)間 | 0.5秒/每一角度 | ||||
厚度 |
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基體 | Fe:磁性,NFe:非磁性 | ||||
測(cè)量范圍 | 0-500μm | ||||
精度 | ±(1.5μm+2%測(cè)量值) | ||||
內(nèi)存 | 999個(gè)讀數(shù)包括日期和時(shí)間 | ||||
接口 | USB | ||||
電源 | 一節(jié)1.5v堿性5號(hào)電池可測(cè)4,000次或使用USB端口 | ||||
尺寸 | 155x73x48mm | ||||
重量 | 0.4kg | ||||
操作溫度 | 15-40℃ | ||||
相對(duì)濕度 | 高達(dá)85%,不結(jié)露 | ||||
45°和70°光澤儀見(jiàn)前頁(yè) S型光澤儀見(jiàn)前頁(yè) | |||||
訂購(gòu)信息 | 可選部件和配件 | ||||
型號(hào) | 名稱 |
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4405 | USB線纜 | 用于傳送數(shù)據(jù)至電腦,USB-A | |||
4866 | 軟件smart-lab Gloss | 在實(shí)驗(yàn)室中做文檔處理軟件進(jìn)行專業(yè)分析 | |||
4867 | 軟件smart-process Gloss | 過(guò)程質(zhì)量控制軟件用于多組成產(chǎn)品的分析 | |||
A | OTHER | 導(dǎo)出/導(dǎo)入 標(biāo)準(zhǔn)(xml格式) 文件夾(xml)格式 |
注意:需要了解安裝smart-char 語(yǔ)言: 中文,English,F(xiàn)rench,German,ltalian,Japanese,軟件超過(guò)兩臺(tái)以上電腦所需的軟件Spanish秘鑰費(fèi)用,請(qǐng)與當(dāng)?shù)谺YK-Gardner代表
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有:
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀;
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x;
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺;
==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀;
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀;
==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀;
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺;
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng);
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器;
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī);
==>>杭州思看科技三維掃描儀.