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日立分析儀器(上海)有限公司

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光柵數(shù)字控制器選索恩達(dá),專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠商

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 深圳市索恩達(dá)電子有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 深圳
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2019/6/21 10:19:53
  • 訪問(wèn)次數(shù) 304

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    深圳市索恩達(dá)電子有限公司是三維微距測(cè)量領(lǐng)域的創(chuàng)新者,專(zhuān)注于三維核心部件研發(fā)與設(shè)計(jì)。

    是一家三維檢測(cè)測(cè)量方案商,服務(wù)于專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域的三維測(cè)試設(shè)備,是一家以技術(shù)為依托的研發(fā)型高科技公司,國(guó)家*,軟件企業(yè),通過(guò)了ISO9001質(zhì)量認(rèn)證,擁有數(shù)十項(xiàng)發(fā)明及軟件著作權(quán)。公司位于深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)黃田廣宇工業(yè)園一棟一、二層,專(zhuān)業(yè)從事測(cè)量與檢測(cè),機(jī)器視覺(jué)等相關(guān)方面的技術(shù)核心部件的研發(fā),行業(yè)應(yīng)用于SMT(SPI/AOI/鋼網(wǎng)檢測(cè))電子、半導(dǎo)體IC封裝、BGA焊接、印刷設(shè)備等快速檢測(cè),先后與世界企業(yè)及高校進(jìn)行合作,分別與韓國(guó)Namkang公司、*上海光學(xué)研究所及清華大學(xué)研究院深圳實(shí)驗(yàn)基地進(jìn)行密切合作,成功研發(fā)了三維非接觸式微距測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行廣泛使用。公司始終本著“科技創(chuàng)新、以人為本”,以其*的專(zhuān)業(yè)技術(shù)、高質(zhì)量的管理水平、為客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及服務(wù)。

    索恩達(dá)以開(kāi)放的精神與客戶(hù)密切合作,積極探索行業(yè)新技術(shù),未來(lái)目標(biāo)成為**的三維芯片方案供應(yīng)商的商業(yè)模式,為三維測(cè)量做出貢獻(xiàn)力量。

全自動(dòng)鋼網(wǎng)檢查機(jī),鋼網(wǎng)管理系統(tǒng),爐溫跟蹤儀,爐溫記錄儀,溫度曲線(xiàn)分析測(cè)試儀,3D SPI,桌面型錫膏檢測(cè)設(shè)備,錫膏測(cè)厚儀,離線(xiàn)錫膏檢測(cè)設(shè)備,全自動(dòng)條碼標(biāo)簽檢測(cè)設(shè)備,全自動(dòng)PCB檢測(cè)設(shè)備,全自動(dòng)刮刀檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 光譜分辨率 XY方向:10μmZ軸:0.37um
光柵數(shù)量 光柵臺(tái) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 食品,石油,電子,印刷包裝,汽車(chē) 應(yīng)用系統(tǒng) 透射/反射光譜

  光柵數(shù)字控制器選索恩達(dá),專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠商

 

  為精準(zhǔn)而設(shè)計(jì)

  “高速三維數(shù)字光柵控制器”憑借PDG自動(dòng)光柵控制技術(shù)、PMP輪廓測(cè)試技術(shù)為錫膏印刷、微電子元器件提供高精度的三維和二維測(cè)量。內(nèi)部結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了高集成,簡(jiǎn)單化,有利于各種應(yīng)用及設(shè)備維護(hù)。

  

 

 

  

功能特點(diǎn)

 

  PDG可編程全光譜結(jié)構(gòu)光柵

  可編程光柵(PDG)技術(shù)形成全光譜結(jié)構(gòu)光柵,實(shí)現(xiàn)了對(duì)結(jié)構(gòu)光柵的軟件調(diào)制及控制,提高了設(shè)備的檢測(cè)能力和適用范圍。

  

 

  PMP調(diào)制輪廓測(cè)量技術(shù)

  運(yùn)用*的相位輪廓調(diào)制測(cè)量技術(shù)(PMP),8比特的灰階分辨率,達(dá)到0.37微米的檢測(cè)分辨率。對(duì)焊膏印刷進(jìn)行高精度的三維和二維測(cè)量。

  

 

  3維及2維測(cè)量

  自動(dòng)檢測(cè)所有需要檢測(cè)的物體的體積,面積、高度、XY位置形狀不良等工藝缺陷。

  

 

  克服反射率的差異

  同步漫反射技術(shù)(DL)完*焊膏的結(jié)構(gòu)陰影和亮點(diǎn)干擾。

 

  *的穩(wěn)定性

  控制器由可編程控制器、數(shù)字光柵、影像系統(tǒng)組成。

  

 

  應(yīng)用于SPI焊膏檢測(cè)

  SPI 解決焊膏缺陷,包括體積、面積、高度、XY偏移、形狀,漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。

 

 

  

 
 

 

  應(yīng)用于焊膏印刷

  印刷機(jī)與SGO-500三維數(shù)字光柵控制器(PDG)組合,快速提升3大優(yōu)勢(shì):

  降低成本

  產(chǎn)品合并后價(jià)格直接下調(diào)25%。

  提高產(chǎn)品檢測(cè)自控能力

  形成真正的閉環(huán)控制,通過(guò)印刷后*檢測(cè)結(jié)果,自動(dòng)對(duì)印刷機(jī)優(yōu)化和調(diào)整。

  自行組合,誤判、識(shí)別錯(cuò)誤

  快速模塊化組合,根據(jù)客戶(hù)來(lái)做檢測(cè)裝置選配及持續(xù)升級(jí)。

  

 

 

  

 
 

 

  應(yīng)用于AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)

  3D AOI 創(chuàng)新技術(shù)解決了現(xiàn)有 2D AOI 無(wú)法解決的瓶頸。 利用3維測(cè)量核心技術(shù),不受密腳距、透明度、顏色、陰影等周?chē)h(huán)境及元器件特性的影響,在原有的2D-AOI基礎(chǔ)上快速提升檢測(cè)能力。

  

 

 

  

 
 

 

  軟件系統(tǒng)

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  SGO-500D的技術(shù)參數(shù)

測(cè)量原理Measurement Principle3D 白光 PMP PDG(可編程數(shù)字光柵)
測(cè)量項(xiàng)目Measurements體積、面積、高度、XY偏移、形狀,輪廓
檢測(cè)不良

  類(lèi)型

Detection of non-

 

  performing types

漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良
相機(jī)Camera500萬(wàn)像素
FOV尺寸FOV size48×34mm
精度Accuracy高精度:±1μm
分辨率ResolutionXY方向:10μmZ軸:0.37um
PDG控制器45度可變光柵雙投影(快速解決陰影效果問(wèn)題)
重復(fù)精度Repeatability體積:小于1%(4 Sigma)高度:小于1μm(4 Sigma),面積:小于1%(5 Sigma)
Gage R&RGage R&R<<10%(6 Sigma)
檢測(cè)速度Detection Speed高精度模式:小于0.5秒/FOV
Mark點(diǎn)檢測(cè)時(shí)間Mark-point detection time0.5秒/個(gè)
測(cè)量高度Maximum Measuring height700μm(2000) μm
彎曲PCB測(cè)量高度Maximum Measuring

 

  height of PCB warp

±5mm
小焊盤(pán)間距Minimum pad spacing100μm
小測(cè)量大小Smallest sizemeasurement長(zhǎng)方形:150μm(5.9 mils), 圓形:200μm(7.87 mils)
工程統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)Engineering StatisticsHistogram, Xbar-R Chart, Xbar-S Chart,Cp & Cpk, %

 

  Gage Repeatability Data,SPI Daily/Weekly/Monthly

  Reports

讀取檢測(cè)位置Read position Detection支持Gerber Format(274x, 274d)格式,人工Teach模式
操作系統(tǒng)支持Operating system supportWindows®XP Professional &windows®7 professional
電源Power200-240VAC,50/60HZ單相

 

光柵數(shù)字控制器選索恩達(dá),專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠商

 

 

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