EX1手動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款手動教學儀器。

EX1 手動橢圓偏振測厚儀適用于納米薄膜的厚度測量、以及納米薄膜的厚度和折射率測量。

EX1 手動橢圓偏振測厚儀還可用于測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。

特點

• 消光法橢偏測量原理
•   儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
• 方便的樣品水平放置方式
•   采用水平放置樣品，方便樣品取放。
• 精巧的一體化結構
•   集成一體化設計，精巧的儀器外形，方便地顯示儀器測量過程中的光強信息。
• 高準確性的激光光源
•   采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。
• 實用的樣品測量功能
•   可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率。
• 方便的儀器手動操作
•       手動完成測量，儀器軟件輔助進行測量數(shù)據的分析。
• 可擴展的儀器功能
•   利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。