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M-3 蘇州晶格M-3便攜式手持式方塊電阻測(cè)試儀
- 公司名稱 蘇州晶格電子有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) M-3
- 產(chǎn)地 江蘇省蘇州市吳中區(qū)長橋街道新門路18號(hào)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/11/14 13:56:23
- 訪問次數(shù) 1165
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1-5千 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 自動(dòng)化度 | 半自動(dòng) |
2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
蘇州晶格M-3便攜式手持式方塊電阻測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》等國標(biāo)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
2.2配套組成:標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試
2.3蘇州晶格M-3便攜式手持式方塊電阻測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)特征:
1美觀適用:彩色流線型手持式面板、帶防滑墊,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包裝,便于野外或旅行使用。
2高精度:帶完善厚度、形狀修正功能,測(cè)試精準(zhǔn)。同行中手持式多為簡易程序,沒有完整修正功能,無法修正誤差。
3寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程,同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位,測(cè)試范圍有限,適應(yīng)性不廣。
4操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,簡便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。
5手動(dòng)/自動(dòng)一體化:
6顯示方式美觀清晰:由高亮綠色數(shù)碼和LED數(shù)字表頭顯示,不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光;
7待機(jī)和工作時(shí)間長(不小于兩天),有大容量可充電鋰電池電池供電,環(huán)保耐用。
2.4探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
1配高耐磨的碳化鎢探針探頭,如ST2253-F01型,以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;
2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,如ST2558B-F01型,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。
3配箔上涂層探頭,如ST2558B-F02型,也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。
4換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。
2.5測(cè)試臺(tái)選配:根據(jù)不同材料特性需要,測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
四探針法測(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型(電動(dòng))或SZT-C型(快速恒壓)測(cè)試臺(tái)。
二探針法測(cè)試細(xì)長棒類材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).
平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)。
2.6適用范圍:手持式使用,儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針法對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍、分辨率
電 阻: 0.010Ω~50.00kΩ, 分辨率0.001Ω~10 Ω
電 阻 率: 0.010Ω-cm~20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω~10 Ω-cm
方塊電阻:0.050Ω/□ ~100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω~10 Ω/□
2.可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下:
直 徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm。
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可。
3.量程劃分及誤差等級(jí)(括號(hào)內(nèi)為拓展量程)
量程(Ω-cm/□) | 2.000 (200.0m) | 20.00 (2.000m) | 200.0 (20.00) | 2.000k (200.0) | 20.00k (2.000k) |
電阻測(cè)試范圍 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4)充電器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電DC3.7V.
5)外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重:≤0.3kg