光學(xué)鍍膜橢偏儀
- 公司名稱 蘇州英蒔特儀器科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/1/19 14:25:55
- 訪問次數(shù) 1993
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,電氣 |
名稱:光學(xué)鍍膜橢偏儀
型號:ME-L
品牌:頤光
在手機(jī)蓋板中的應(yīng)用光學(xué)鍍膜就好比女士化妝,不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮,也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用,所以在如今這個“看臉”的時代,蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的,目前常見的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。
光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點(diǎn)分析
1、AR膜透過率不合格NG
2、顏色膜調(diào)色困難,周期長。
3、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定,存在色差。
橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于:
A;仿真設(shè)計調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實(shí)際材料折射率不符。
B;鍍膜設(shè)備實(shí)際鍍層厚度與膜系設(shè)計要求不符。
C;量產(chǎn)過程對鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。
橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子,為蓋板量產(chǎn)保駕護(hù)航。
1.膜系設(shè)計——膜層實(shí)際折射率的標(biāo)定
★鍍膜實(shí)際折射率的影響因素:供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等
★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度,因此通過鍍膜機(jī)在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜,可直接準(zhǔn)確測量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù)。
★通過調(diào)整鍍膜機(jī)參數(shù),以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋,將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時對應(yīng)的鍍膜機(jī)參數(shù)即為厚度鍍膜時所需設(shè)定的終參數(shù)。
2.工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正
★通常來說,鍍膜機(jī)通過晶振來控制鍍膜厚度,而實(shí)際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足,導(dǎo)致實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機(jī)中,可通過工具因子(Tooling值)控制鍍膜機(jī)的蒸鍍速率,進(jìn)而可對實(shí)際鍍膜厚度進(jìn)行調(diào)控。
★橢偏儀可以準(zhǔn)確測量獲得薄膜的厚度,因此可用于校正鍍膜機(jī)的工具因子(Tooling值),使實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*。
3.量產(chǎn)監(jiān)控——實(shí)時監(jiān)測各項鍍膜指標(biāo):
★鍍膜膜厚是否在設(shè)計范圍。
★材料折射率有無顯著波動。
★透過率是否滿足工藝需求。
★色度值是否滿足工藝需求。
★反射率是否滿足工藝需求。
售后服務(wù):
1、廠家貨源正品貨源有保障,可以根據(jù)客戶不同測試需求,提供不同測試方案。
2、關(guān)于售后4小時電話響應(yīng),24小時內(nèi)安排上門服務(wù)。終生維護(hù)。
3、關(guān)于發(fā)貨到款4-5天內(nèi)到貨,江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。