化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM)>FM-NanoviewLS-AFM 工業(yè)型原子力顯微鏡
FM-NanoviewLS-AFM 工業(yè)型原子力顯微鏡
- 公司名稱 蘇州飛時(shí)曼精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) FM-NanoviewLS-AFM
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/15 11:52:38
- 訪問次數(shù) 4160
聯(lián)系方式:朱先生18934598975 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-50萬 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
工業(yè)型原子力顯微鏡
FM-NanoviewLS-AFM
◆ 實(shí)現(xiàn)樣品保持不動(dòng),探針移動(dòng)掃描的原子力顯微鏡;
◆ 采用閉環(huán)三軸獨(dú)立壓電平移式掃描器,大范圍高精度掃描;
◆ 樣品尺寸、重量基本不受限制,特別適合集成電路晶圓等超大樣品檢測;
◆ 龍門架式掃描頭設(shè)計(jì),大理石底座,真空吸附式載物臺(tái);
◆ 超大行程二維電動(dòng)樣品移動(dòng)臺(tái),快速選擇感興趣的樣品區(qū)域;
◆ 高倍光學(xué)定位系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)探針
工業(yè)型原子力顯微鏡技術(shù)參數(shù)
◆ 基本工作模式:接觸、輕敲、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力
◆ 選配工作模式:Profile線快速測量模式
◆ 最大樣品尺寸:Φ≥300mm,H≥50mm
◆ 閉環(huán)掃描范圍:XY向100um,Z向10um
◆ 閉環(huán)掃描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm
◆ 樣品移動(dòng)范圍:300mm×300mm
◆ 輔助光學(xué)定位:10X物鏡,光學(xué)分辨率1um(可選配20X,光學(xué)分辨率0.8um)
◆ 氣動(dòng)式減震臺(tái),減震頻率0.5Hz
◆ 噪音水平:<0.1nm
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz,掃描角度0~360°
◆ 掃描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
◆ 數(shù)據(jù)采樣:14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式:DSP數(shù)字反饋
◆ 反饋采樣速率:64.0KHz
◆ 通信接口:USB2.0/3.0
◆ 運(yùn)行環(huán)境:WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)