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KDK-LT-1 少子壽命測(cè)試儀
- 公司名稱 北京恒奧德儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) KDK-LT-1
- 產(chǎn)地 北京恒奧德儀器儀表有限公司
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/2/21 13:02:57
- 訪問次數(shù) 542
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氣體檢測(cè)儀,微生物檢測(cè)儀,水質(zhì)檢測(cè)儀,量計(jì),污垢熱阻檢測(cè)儀 ,數(shù)字式大氣壓計(jì) ,不銹鋼自動(dòng)溶液過濾器,紫外輻照計(jì)
頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀/ 型號(hào):KDK-LT-1
1、 用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載子壽命測(cè)量,除需要有個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊體形無嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
2、少子壽命測(cè)試儀 設(shè)備組成
2.1、光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率>25次/s 脈寬>60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<0.2-1μs
紅外光源波長:1.06~1.09μm(測(cè)量硅單晶) 脈沖電:5A~20A
如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源
2.2、頻源
頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出率>1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應(yīng):2Hz~2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器:頻帶寬度不低于40MHz,Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。
3、測(cè)量范圍
KDK-LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍:ρ≥3Ω·㎝(歐姆·厘米),壽命值的測(cè)量范圍:5~6000μs
重復(fù)頻率>25次/s 脈寬>60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<0.2-1μs
紅外光源波長:1.06~1.09μm(測(cè)量硅單晶) 脈沖電:5A~20A
如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源
2.2、頻源
頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出率>1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應(yīng):2Hz~2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器:頻帶寬度不低于40MHz,Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。
3、測(cè)量范圍
KDK-LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍:ρ≥3Ω·㎝(歐姆·厘米),壽命值的測(cè)量范圍:5~6000μs