SESAME 777Cu IC酸開封機自動decap芯片去封裝失效分析
| 參考價 | ￥ 600000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 儀準科技（北京）有限公司
- 品牌
- 型號 SESAME 777Cu
- 產(chǎn)地 法國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/24 13:15:39
- 訪問次數(shù) 2037
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儀準科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務商
主要服務項目：半導體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測試
 | 非破壞性分析 |
| 小型測試機 / 半導體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 / |
| 破壞性分析 |
| 激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機 / 小型半導體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 / |
| 化學處理 |
| 取晶 / 反應離子刻蝕機 / 碼點染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 / |
| 聚焦離子束 |
| 微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 / |
| 可靠性服務 |
| 預處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實驗(HAST) / HTRB / 老化實驗(Burn in) / 高壓高濕實驗(SPP) / |
| 靜電測試(ESD/HBM/MM) |
| CDM / Latch up / HBM / MM / |
| 可焊性測試 |
| 沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實驗(Whisker) / |
| 研磨/拋光等耗材銷售 |
| Allied / ProbeTips / |
探針臺probe，開封機laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀
IC酸開封機自動decap芯片去封裝失效分析
SESAME 707/777Cu混合酸開封系統(tǒng)
關(guān)鍵應用：
快速的IC蝕刻時間
即使是zui易損壞的器件也能容易的開封
設(shè)計緊湊，占地面積小
專為銅線器件的開封設(shè)計（SESAME 777Cu）
IC酸開封機自動decap芯片去封裝失效分析
產(chǎn)品特點 ：
主動壓力監(jiān)測系統(tǒng)（ASM）
非常迅速的加熱時間
液體傳感器警告操作員有酸的泄漏
泵保修6年
蝕刻頭終身保修
SESAME 707/777Cu是一個自動的混合酸開封系統(tǒng)，集成了*的特色來提高生產(chǎn)效率。
開封機可以快速容易的打開任何器件，即便是zui易損壞的器件。通過精確的控制硝酸、硫酸混酸，不會造成對器件的損壞。
可以選擇一個*的供酸功能，它能夠在少于zui大的酸消耗量時提供zui高的脈沖率。
SESAME 707/777Cu可以加熱到zui高250℃，提供任意種類的酸的配比，使得操作更多樣化。
整體刻蝕頭由高級碳化硅加工而成，具有*的耐酸性。
樣品固定裝置采用氣動裝置激活，并且設(shè)計了無限次往復運動的能力。
SESAME 707/777Cu是*在酸瓶和開封機之間包含了對所有的液體連軸器的真正的雙重節(jié)制的開封機。
在酸瓶容器系統(tǒng)和刻蝕單元上都有流量傳感器，用于警告操作員在機器內(nèi)部或酸瓶系統(tǒng)出現(xiàn)的任何酸的意外泄漏。
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