儀準科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務商
主要服務項目：半導體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測試
 | 非破壞性分析 |
| 小型測試機 / 半導體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 / |
| 破壞性分析 |
| 激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機 / 小型半導體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 / |
| 化學處理 |
| 取晶 / 反應離子刻蝕機 / 碼點染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 / |
| 聚焦離子束 |
| 微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 / |
| 可靠性服務 |
| 預處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實驗(HAST) / HTRB / 老化實驗(Burn in) / 高壓高濕實驗(SPP) / |
| 靜電測試(ESD/HBM/MM) |
| CDM / Latch up / HBM / MM / |
| 可焊性測試 |
| 沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實驗(Whisker) / |
| 研磨/拋光等耗材銷售 |
| Allied / ProbeTips / |
探針臺probe，開封機laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀
I/V曲線量測儀開短路測試
I/V曲線量測儀開短路測試
集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在*步)，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200*的便利性。國內(nèi)客戶有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)、華為、珠海炬力、蘇州瑞薩、蘇州三星、東莞三星、SMIC、天水華天、無錫安盛、深圳沛頓、華測檢測等等
I/V曲線量測儀開短路測試
主要參數(shù)：
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。
2. 機臺主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。
2. 機臺主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
I/V曲線量測儀開短路測試
可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機成本及時間。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。
4.Windows的操作系統(tǒng)，易學易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲存在電腦中，未來可重復被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時。
5.機臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。
6.機臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可謂一機多用。
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