pw-800 手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)

參考價(jià)	￥ 670000
訂貨量	≥1

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司
品牌
型號(hào) pw-800
產(chǎn)地 中國(guó)臺(tái)灣
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2018/5/4 10:23:17
訪問次數(shù) 1031

產(chǎn)品標(biāo)簽

手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)集成電路失效分析元器件特性量測(cè)

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測(cè)試的服務(wù)商

主要服務(wù)項(xiàng)目：半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測(cè)試

	非破壞性分析
	小型測(cè)試機(jī) / 半導(dǎo)體I-V特性曲線儀 / 探針臺(tái) / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /

	破壞性分析
	激光開封 / 手動(dòng)開封 / 酸自動(dòng)開封機(jī) / 小型半導(dǎo)體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺(tái) / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /

	化學(xué)處理
	取晶 / 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) / 碼點(diǎn)染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /

	聚焦離子束
	微線路修改 / 測(cè)試鍵生長(zhǎng) / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 /

	可靠性服務(wù)
	預(yù)處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實(shí)驗(yàn)(HAST) / HTRB / 老化實(shí)驗(yàn)(Burn in) / 高壓高濕實(shí)驗(yàn)(SPP) /

	靜電測(cè)試(ESD/HBM/MM)
	CDM / Latch up / HBM / MM /

	可焊性測(cè)試
	沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實(shí)驗(yàn)(Whisker) /

	研磨/拋光等耗材銷售
	Allied / ProbeTips /

展開

探針臺(tái)probe，開封機(jī)laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動(dòng)曲線量測(cè)儀

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺(tái)

        應(yīng)用領(lǐng)域
●Failure analysis 集成電路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證
●Device characterization 元器件特性量測(cè)
●Process modeling塑性過程測(cè)試(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成監(jiān)控
●Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試
●Flat panel probing 液晶面板的特性測(cè)試
●PC board probing PC主板的電性測(cè)試
●ESD&TDR testing    ESD和TDR測(cè)試
●Microwave probing 微波量測(cè)(高頻)
●Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析
●LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析

手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號(hào)： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)術(shù)單位等

手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號(hào)： PW-600/PW-800

規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
手動(dòng)點(diǎn)針工作站失效分析電性測(cè)試探針臺(tái)半導(dǎo)體領(lǐng)域
RF高頻探針臺(tái)