更高分辨率、更高襯度、更快速度

蔡司是的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的*光學器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實現(xiàn)了研究領域的突破。

Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術來優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在*的同步加速器實驗室內(nèi)*引入納米級 X 射線成像技術，蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學研究的zui前列。

通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數(shù)量級，拓展了 XRM 在科學和工業(yè)領域中的應用。對于中心顯微實驗室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內(nèi)綜合利用儀器，從而利于擴大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復執(zhí)行內(nèi)部結構的四維和原位研究，使這些技術的應用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術等有針對性的應用中，Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性，在數(shù)小時內(nèi)提供測量數(shù)據(jù)來表征關鍵性參數(shù)，如孔隙度。