佰力博科技是致力于材料物理性能表征和測量領(lǐng)域研究的高科技企業(yè)。
佰力博科技，位于中國·光谷武漢東湖*開發(fā)區(qū)，專業(yè)從事真空、高低溫、磁學(xué)和電學(xué)測量等領(lǐng)域的產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技企業(yè)。
佰力博研發(fā)的產(chǎn)品：高溫介電測量系統(tǒng)、低溫介電測量系統(tǒng)、變溫介電測量系統(tǒng)、高溫四探針測量系統(tǒng)、高溫絕緣電阻率測量系統(tǒng)、多工位玻璃試管密封旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)、低溫液氮傳輸泵等。
武漢佰力博科技有限公司
地址: 武漢東湖*開發(fā)區(qū)光谷新動力9-602
高溫介電測量系統(tǒng)，低溫介電測量系統(tǒng)，高低溫介電測量系統(tǒng)，高溫四探針測量系統(tǒng)，高溫絕緣電阻率測量系統(tǒng)，變溫介電測量系統(tǒng)，多工位玻璃試管密封旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)，低溫液氮傳輸泵
薄膜介電測量系統(tǒng)
在Partulab數(shù)十位工程師和用戶的共同努力和見證下，讓薄膜介電測量系統(tǒng)有了全新定義。全新的實(shí)現(xiàn)低溫-160℃到高溫400℃下測量薄膜電介質(zhì)材料。
技術(shù)規(guī)格：
探針臂個數(shù)：4個或6個
測量溫度： 10K~675K
測量精度：0.05%
測量參數(shù)：C電容
zui大樣品尺寸：≤51mm
XYZ位移平臺行程：X軸51mm,精度20μm；Y軸25mm,精度10μm；Z軸25mm,精度10μm數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口
測量原理：
該系統(tǒng)配備SRS公司的CTC-100低溫溫控儀與Wayne Kerr阻抗分析儀和MEMS多功能材料電學(xué)測量軟件無縫連接，實(shí)現(xiàn)薄膜電介質(zhì)材料的變溫電學(xué)測量，無需客戶再編寫應(yīng)用程序，大大節(jié)約器件和材料研發(fā)時間。
樣品溫度準(zhǔn)確性和溫度穩(wěn)定性是整個低溫系統(tǒng)的關(guān)鍵，系統(tǒng)配置3個低溫傳感器，一個在樣品臺上，一個在屏蔽罩上，一個在探針臂上，通過監(jiān)測三個地方的溫度，確?？梢蕴峁┮粋€準(zhǔn)確的控溫環(huán)境。為了避免探針臂的溫度傳遞到樣品上，導(dǎo)致樣品溫度高于樣品臺溫度，探針臂和探針必須做熱沉處理。
標(biāo)準(zhǔn)配置：
Partulab CPS系列低溫真空探針臺：CPS-7000或CPS-80000；PPS-90真空輔助系統(tǒng)；
VSZ70KIT可視化視覺系統(tǒng)
Wayne Kerr 6500系列阻抗分析儀（選件）：6500B精密阻抗分析儀
Partulab DielectricMeaskit 測量套件：FT-BNC 同軸真空BNC Feedthrough
CSH-DE 介電同軸樣品固定座
DCP50R-W 50Ω阻抗碳化鎢針，SMA接頭，針尖半徑25µm
PA-DE 介電測量探針臂
MEMS多功能材料電學(xué)測量分析軟件
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