AFM-III型 MicroNano 原子力顯微鏡
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海卓倫微納米設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號 AFM-III型
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/7/25 20:55:32
- 訪問次數(shù) 1008
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生產(chǎn)掃描隧道顯微鏡STM、原子力顯微鏡AFM、磁力顯微鏡，SPM配套產(chǎn)品和特殊功能SPM開發(fā)
我們所有型號的產(chǎn)品間都可直接進行功能擴展，軟件功能強大，使用方便，自動化程度高。并享有遠程網(wǎng)控檢測維修，軟件終生免費升級，18個月加長質(zhì)保期等6大超值服務(wù)。是性價比相當高的國產(chǎn)SPM儀器。
簡 介
這款機型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外，主要增加了AFM側(cè)向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode)，特別適用于檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測， I-V曲線測量， I-Z曲線測量，針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能，劃移掃描，F(xiàn)-Z曲線測量功能。并使用了智能針尖連接技術(shù)，使各種工作模式之間的轉(zhuǎn)換只需替換相應(yīng)的針尖架，不必替換整個探頭，軟件能夠自動識別當前針尖類型，并自動切換到相應(yīng)的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據(jù)不同的科研要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技 術(shù) 指 標
¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾（脈沖）
AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
¨樣品尺寸：≤Φ10mm
¨樣品厚度：≤5mm
¨掃描范圍：標準配置6μm×6μm
¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接觸模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當于20位精度）
¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當于20位精度）
¨zui大掃描速率：20000 P/S
¨掃描角度：0~360°
¨圖像采樣點：256×256 / 512×512
¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨計算機接口：標準并行口
¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可 選 配 件 及 功 能 模 塊
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器
¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)
¨高精度樣品X-Y移動平臺
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊
這款機型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外，主要增加了AFM側(cè)向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode)，特別適用于檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測， I-V曲線測量， I-Z曲線測量，針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能，劃移掃描，F(xiàn)-Z曲線測量功能。并使用了智能針尖連接技術(shù)，使各種工作模式之間的轉(zhuǎn)換只需替換相應(yīng)的針尖架，不必替換整個探頭，軟件能夠自動識別當前針尖類型，并自動切換到相應(yīng)的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據(jù)不同的科研要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技 術(shù) 指 標
¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾（脈沖）
AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
¨樣品尺寸：≤Φ10mm
¨樣品厚度：≤5mm
¨掃描范圍：標準配置6μm×6μm
¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接觸模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當于20位精度）
¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當于20位精度）
¨zui大掃描速率：20000 P/S
¨掃描角度：0~360°
¨圖像采樣點：256×256 / 512×512
¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨計算機接口：標準并行口
¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可 選 配 件 及 功 能 模 塊
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器
¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)
¨高精度樣品X-Y移動平臺
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊
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