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GDJD-600型高、低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)(四通道測(cè)試,同時(shí)測(cè)試4個(gè)樣品)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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主要經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品:

 

基樁檢測(cè)儀】: 低應(yīng)變儀,高應(yīng)變檢測(cè)儀,靜載儀,非金屬超聲波儀,基樁動(dòng)測(cè)儀,樁基動(dòng)測(cè)儀.基樁跨孔檢測(cè)儀,基樁超聲波檢測(cè)儀,跨孔法超聲檢測(cè)儀,聲波透射法自動(dòng)測(cè)樁儀,基樁高應(yīng)變儀,聲波儀,聲波測(cè)試儀,聲波檢測(cè)儀

巖土工程勘察儀:波速儀,波速測(cè)試儀,土層剪切波速測(cè)試儀,巖石波速測(cè)試儀,巖石聲發(fā)射儀,巖石直剪儀,直剪儀,野外大面積直剪儀,聲波儀,現(xiàn)場(chǎng)直剪儀,超磁發(fā)射震源,工程聲波CT儀,數(shù)字式全景鉆孔成像系統(tǒng)

巖土工程原位測(cè)試儀:巖土電阻率測(cè)試儀,野外現(xiàn)場(chǎng)大剪儀,路基連續(xù)壓實(shí)監(jiān)測(cè)儀,路基壓實(shí)度監(jiān)測(cè)儀,巖土力學(xué)多功能試驗(yàn)儀, 輕型動(dòng)力觸探儀

工程檢測(cè)儀:測(cè)斜儀,基坑測(cè)斜儀,鉆孔測(cè)斜儀,分層沉降儀,剛尺沉降儀,孔斜儀,管線探測(cè)儀,地下管線儀,爆破測(cè)振儀,沉降儀,巖石點(diǎn)荷載儀,旁壓儀,扁鏟側(cè)脹儀,灌注樁成孔質(zhì)量檢測(cè)儀,取土器

工程質(zhì)量結(jié)構(gòu)及混凝土技術(shù)檢測(cè):凝土厚度檢測(cè)儀(無需鉆孔取芯),混凝土鋼筋保護(hù)層厚度檢測(cè)儀,鋼筋位置定位儀,裂縫寬度測(cè)試儀,裂縫深度測(cè)試儀,非金屬板厚度檢測(cè)儀,工程雷達(dá),動(dòng)態(tài)變形模量測(cè)試儀,手持落錘彎沉儀,靜態(tài)變形模量測(cè)試儀

工程物探儀;高密度電法儀, 礦用鉆孔軌跡儀,*鉆孔測(cè)斜儀,靜探微機(jī),圍巖松動(dòng)圈測(cè)試儀,巖層探測(cè)記錄儀技術(shù)參數(shù),波速測(cè)井儀,動(dòng)力觸探儀,面波儀,瑞利波測(cè)試儀

環(huán)??萍?/STRONG>】:手持太陽能檢測(cè)儀

海洋,航空航天,地球勘探儀:船舶艙蓋泄漏檢測(cè)儀波紋管注漿密實(shí)度檢測(cè)儀.橋梁預(yù)應(yīng)力錨索注漿質(zhì)量檢測(cè)儀,沖擊回波測(cè)試儀,錨桿測(cè)試儀,稀土超磁致伸縮換能器

計(jì)量與測(cè)控】:直角尺檢定儀,垂直度測(cè)量?jī)x

巖土路橋基坑檢測(cè)儀: 巖石導(dǎo)熱率測(cè)試儀 ,巖石物理性多參數(shù)測(cè)試儀 ,土壤電阻率測(cè)試儀 ,雙通道基樁低應(yīng)變檢測(cè)儀 ,地震儀.面波儀,管樁成像檢測(cè)儀,巖石土力學(xué)多功能實(shí)驗(yàn)儀.滲漏探測(cè)儀

巖土實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀: 三軸儀,高壓固結(jié)儀,中低壓固結(jié)儀,無限側(cè)壓縮儀,取芯機(jī),背包式取芯機(jī),液壓鉆機(jī),粗粒土滲透系數(shù)和滲透穩(wěn)定性測(cè)試系統(tǒng)

科學(xué)研究?jī)x】:壓電測(cè)試儀 .靜壓電系數(shù)d33/d15測(cè)量?jī)x,探針式高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng) ,準(zhǔn)靜態(tài)d33/d31(+d15)測(cè)量?jī)x

測(cè)繪儀器】:光透過率儀,橋隧光透過率檢測(cè)儀

測(cè)斜儀,基坑測(cè)斜儀,鉆孔測(cè)斜儀,波速測(cè)試儀,波速儀,剪切波波速儀,單孔法波速測(cè)試儀

GDJD-600型高、低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)

 

GDJD-600型高低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)(四通道測(cè)試,同時(shí)測(cè)試4個(gè)樣品) 

關(guān)鍵詞:高低溫介電測(cè)量?jī)x,高、低溫介電測(cè)量系統(tǒng), 

 

產(chǎn)品介紹: 

   GDJD-600型高溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測(cè) 

試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其 

他阻抗參數(shù),廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。 

一、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): 

1.實(shí)現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測(cè)量 

2.四通道測(cè)試,可以同時(shí)測(cè)試1-4個(gè)樣品,方便快捷 

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù) 

二、《符合ASTMD150和 D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>> 

<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的*方法;》 

三、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測(cè)量固體、薄膜樣品的介電性能; 

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測(cè)量功能; 

3.可以測(cè)量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線,時(shí)間和電壓變化的曲線; 

4、可提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測(cè)試要求。 

主要技術(shù)指標(biāo): 

測(cè)量溫度: -160°C-800°C 

升溫斜率:2°C /min

頻率范圍:20-30MHZ 

精度:0.05% 

測(cè)量精度: ±0.1°C 

控溫精度:±1°CPID精準(zhǔn)控溫) 

高溫樣品桿:耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好 

測(cè)試方法:兩線法或四線法 

測(cè)試通道數(shù):1-4通道 

一次可測(cè)樣品數(shù):1-4個(gè)樣品 

樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸 

測(cè)量精度:0.05% 

AC電平:  0V  1V rms 

直流偏壓:0±40V/100mA 

數(shù)據(jù)存儲(chǔ):EXCEL表格等多種格式 

加熱方式:電阻絲加熱 

真空度范圍:100 Pa-1大氣壓 

電極材料:鉑金 

數(shù)據(jù)傳輸:4個(gè)USB接口 

儀器通訊:USBGPIB 

 



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