X-射線能譜儀 GENESIS
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 EDAX Inc.美國伊達(dá)克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/9/15 17:11:36
- 訪問次數(shù) 4146
產(chǎn)品標(biāo)簽
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1.GENESIS X射線能譜儀(EDS, EDX)2.電子背散射衍射分析系統(tǒng) EBSP/OIM (EBSD)3.LEXS/TEXS新型高精度自動聚焦波譜儀 (WDS, WDX)4.TEM 自動晶體學(xué)分析系統(tǒng) ACT/TOCA
5.EAGLE III X射線微探針熒光能譜儀 (XRF)
技術(shù)參數(shù)
1.探頭分辨率優(yōu)于129eV,峰背比優(yōu)于20000:1
2.檢測元素范圍Be4 - U92
3.zui大計(jì)數(shù)率500,000cps
4.zui大圖象采集分辨率8192x6400象素
5.zui大面分布圖采集分辨率2048x1600象素
主要特點(diǎn)
1.探頭指標(biāo)高,性能好,壽命長。
2.全新32位軟硬件系統(tǒng),工作可靠,效率高。
3.具有操作引導(dǎo)的集成式界面,使用直觀方便。
4.具有多種專有技術(shù)軟件,分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富,且具有報(bào)告生成系統(tǒng)。
儀器介紹
GENESIS能譜儀是高性能能譜儀的代表,其秉承了EDAX公司PHOENIX能譜儀指標(biāo)高、性能好、壽命長,使用方便的特點(diǎn),并更上一層樓。EDAX能譜儀已廣泛應(yīng)用于國內(nèi)外各種型號的掃描電鏡和透射電鏡,并且可以同EDAX公司的OIM(電子背散射衍射取向成像分析系統(tǒng))和ACT(自動晶體學(xué)分析系統(tǒng))構(gòu)成一體化分析系統(tǒng)。