軟件產(chǎn)品：ZEMAX光學(xué)設(shè)計軟件以及GB Drawing中文國標出圖軟件，ASLD固體激光器設(shè)計軟件，TFCalc薄膜設(shè)計軟件，PhotonDesign光波導(dǎo)設(shè)計軟件，Prosource、Radiant Source照明及光源設(shè)計分析軟件，CYME電力工程軟件；硬件產(chǎn)品：NIT非制冷中波紅外探測器，LED檢查儀，MTF成像質(zhì)量檢測儀，各種紅外鏡頭及擴束鏡頭，Laser Component的雪崩光電二極管(APD)與脈沖激光二極管(PLD)，溫度控制器與激光二極管驅(qū)動器，視覺鏡頭，紅外機芯等。
| 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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白俄羅斯EssentOptics公司基于*性設(shè)計的分光光度計和單色儀來開發(fā)和生產(chǎn)光學(xué)儀器設(shè)備。PHOTON RT 紫外可見中波紅外分光光度計可以滿足目前以及未來的光學(xué)工業(yè)用戶的需求。
該光度計可以實現(xiàn)對光學(xué)鍍膜樣品進行無人值守測量的儀器。其測量波長范圍185nm到5200nm，可以在寬角度和寬波長范圍測量反射率、透過率和偏振態(tài)。
紫外可見中波紅外分光光度計優(yōu)勢：
擁有比市場上同類儀器超過10倍的測量速度；
改變測量入射角度時不需重新校準基準；
在基片的同一區(qū)域可以測量透過濾和反射率——*用于薄膜設(shè)計的逆推分析；
*的自動化過程將測量過程中的人為錯誤*地zui小化；
單一儀器中可設(shè)置、記錄寬波長范圍： 190-4900 nm和 380-5200 nm；
特點和測量能力 (不需額外附加裝置):
可設(shè)置波長范圍：190-4900 nm 和 380-5200 nm
內(nèi)置寬譜帶高對比偏光鏡，覆蓋 波長范圍220-5200 nm
*的偏光鏡設(shè)置： S， P， S+P+(S+P)/2， 隨機和用戶自定義S：P
鏡面反射測量(R, Rs, Rp)@ 8-75deg AOI
透射比測量 (T, Ts, Tp)@ 0-75 deg AOI
無人值守測量和隨機T(s+p)/2和 R(s+p)/2偏振計算
無反射基片的吸收比測量
內(nèi)建光束位移補償對厚樣品的任意角度下的透射比測量
對單個或多個樣品的無人值守批量測量
對單層均勻膜層的復(fù)折射率和膜層厚度的測定
在用戶選擇波長范圍內(nèi)對R和T值的平均化
依據(jù)A型照明光源和人眼光譜敏感性對R和T值進行積分調(diào)整
樣品的光密度測量，0 – 4 (D)
展示圖： 
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