KSC-230 美國(guó)磁通QQI 磁粉探傷試片
- 公司名稱(chēng) 徐州晟浩電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) KSC-230
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2023/12/4 13:18:44
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美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
型號(hào):KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸。
美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片,,
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