美國SD全新顆粒碰撞噪聲檢測儀

品牌 ： 傳動科學(xué)
型號 ： 4511L    4511M   4511M6
測量范圍 ： 25 至250Hz, 正弦曲線
測量精度 ： 40 至250Hz
電源 ： 100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz
用途 ： 有效檢測出這些多余物體,提高產(chǎn)品可靠性
加工定制 ： 是
外形尺寸 ： 22mm~150mmmm
重量 ： 20kg
頻率范圍 ： 25 至250Hz, 正弦曲線
頻率分辨率 ： 1Hz
時間 ： 每個程序0.1 至25.5 秒
時間程序分辨率 ： 0.1 秒
振幅 ： 0.1 至25.50’G’峰值,4 位數(shù)顯
類型：電磁振動試驗機振動方向：垂直主動機功率：100kW頻率范圍：250Hz工作臺尺寸：150㎜電源電壓：220V振幅：5㎜用途：顆粒碰撞噪聲檢測加工定制：是臺體尺寸：500㎜試驗臺重量：10kg有效載荷：500g沖擊加速度：1000靈敏度：75dB振動加速度：20g電壓：20mv
設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗,目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實驗. 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性
適用范圍：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.
技術(shù)原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection，PIND）試驗是一種多余物檢驗的有效手段.其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒佣嘤辔镌诋a(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動過程和撞擊過程的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播，并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經(jīng)前置放大器放大后，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì)，以此得出檢測結(jié)論. 

多年來， PIND 系統(tǒng) 給用戶設(shè)計提供了簡單，可靠， 及經(jīng)濟性能好的顆粒噪音探測系統(tǒng)(PIND).   用來測試電器零件從而提高電器零件 的可靠性，型號如下：
4511L
中型測試系統(tǒng),臺面50mm 
4511L-R
R系列具有寬脈沖持續(xù)符合美軍標繼電器檢驗標準MIL_STD 39016D
4511M
大型測試系統(tǒng),臺面100mm
4511M-R
R系列具有寬脈沖持續(xù)符合美軍標繼電器檢驗標準MIL_STD 39016D

美國顆粒碰撞噪聲檢測儀
美國SD公司**。 
15年專業(yè)粒子噪聲檢測經(jīng)驗，傳動科學(xué)技術(shù)有限公司竭誠為您提供專業(yè)優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。包括顆粒碰撞噪聲檢測儀PIND、及其附件水溶膠、膠片的銷售，維修（聲耦合劑維護及試件夾具設(shè)計，實驗方案指導(dǎo)）。
      美國SD顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗,目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實驗. 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒. 

選型說明:
每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括:控制器,振動臺,傳感器, 靈敏度測試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定,我們的標準配置采用的是M230振動臺可測負載重量,全頻率范圍內(nèi)為400克,換能器臺面直徑為22mm~150mm,換能器因在其中心區(qū)域50%面積處靈敏度zui高,故實際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件zui大扁平面面積.產(chǎn)品型號包括：4511L（50mm臺面）4511M（100mm臺面） 4511M6（150mm臺面）

產(chǎn)品型號：