島津EDX-720/edx-LE技術(shù)參數(shù)/島津EDX-LE射線熒光光譜儀,檢

降低運(yùn)行成本，減少日常維護(hù)量

由于配備了無需液氮進(jìn)行冷卻的檢測(cè)器，因此大幅削減了使用時(shí)的運(yùn)行成本，為延長(zhǎng)X光管的壽命而進(jìn)行的光管老化（穩(wěn)定性運(yùn)轉(zhuǎn)）是裝置管理上必*。在裝置*不運(yùn)行的情況下，再次啟動(dòng)時(shí)需要對(duì)X射線光管進(jìn)行老化處理，而該裝置可自動(dòng)執(zhí)行該功能以防故障發(fā)生.

測(cè)器:
1、檢測(cè)器
類型 Si（Li）檢測(cè)器
液氮 只有在分析時(shí)添加
液氮消耗 少于
檢測(cè)面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點(diǎn)說明：采用液氮制冷方式的檢測(cè)器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實(shí)績(jī)、穩(wěn)定性上，Si(Li)半導(dǎo)體是性的實(shí)績(jī)（島津檢測(cè)器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對(duì)應(yīng)）。 掘場(chǎng)按振動(dòng)檢測(cè)器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時(shí)，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時(shí)不能檢出，還有因?yàn)槭堑蛷?qiáng)度，在測(cè)試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計(jì)數(shù)單元
放大器
擬合時(shí)間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道.

島津EDX-720/EDX-LE技術(shù)參數(shù)配備只針對(duì)RoHS法規(guī)有害5元素+氯元素所需的篩選分析功能

島津EDX-LE可能將需要熒光X射線分析知識(shí)的操作步驟自動(dòng)化，可進(jìn)行RoHS法規(guī)5元素+氯元素（選配）的高速篩選分析。島津EDX-LE從開始分析到得到結(jié)果只需要（根據(jù)樣品）約1分鐘。不僅可進(jìn)行高速篩選分析，同時(shí)維持了高可信性的分析水平。

標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器＆樣品圖像觀察組件 

測(cè)定異物或者測(cè)定包含多個(gè)部位的樣品時(shí)，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時(shí)，可以簡(jiǎn)單的設(shè)定分析位置。測(cè)定小樣品或樣品中特定位置時(shí)，可以使用準(zhǔn)直器，更改X射線照射區(qū)域（3, 5, 10 ｍｍφ），EDX-LE標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得*RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng)。

降低運(yùn)行成本，減少日常維護(hù)量

由于配備了無需液氮進(jìn)行冷卻的檢測(cè)器，因此大幅削減了使用時(shí)的運(yùn)行成本，為延長(zhǎng)X光管的壽命而進(jìn)行的光管老化（穩(wěn)定性運(yùn)轉(zhuǎn)）是裝置管理上必*。在裝置*不運(yùn)行的情況下，再次啟動(dòng)時(shí)需要對(duì)X射線光管進(jìn)行老化處理，而該裝置可自動(dòng)執(zhí)行該功能以防故障發(fā)生，進(jìn)而提高操作性，為了隨時(shí)得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果裝置需要進(jìn)行校正，而用戶們希望盡可能在短時(shí)間內(nèi)完成校正時(shí)的操作和判定。EDX-LE在開啟儀器后會(huì)對(duì)能量校正和定量值校正的操作進(jìn)行幫助，當(dāng)需要進(jìn)行校正時(shí)會(huì)自動(dòng)進(jìn)行校正。