1、奧林巴斯清潔度使用偏振光確認(rèn)磨屑顆粒的優(yōu)勢

合適的軟件使用戶能夠輕松地區(qū)分金屬和非金屬顆粒。

很多標(biāo)準(zhǔn)，包括ISO 16232和ISO 4407，以及公司內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)，都要求能夠按照各種參數(shù)來區(qū)分磨屑顆粒。尤其重要的是區(qū)分金屬與非金屬顆粒。通過顯微鏡和清潔度分析軟件，技術(shù)人員就能夠有效地使用偏振光來區(qū)分金屬和非金屬顆粒，從而確定某個機(jī)械部件是否zui終已經(jīng)過度磨損或失效。

2、奧林巴斯清潔度機(jī)械部件性能中磨屑顆粒分析的重要性

很多機(jī)械部件生產(chǎn)廠商面臨的問題是這些在部件生產(chǎn)加工后的顆粒殘留，或者是部件服役一段時間后而殘留的磨屑顆粒。殘留的磨屑顆粒尺寸大小可以從3 µm到1000 µm不等，并可能影響機(jī)械部件的運(yùn)行，還可能隨時間的推移加速部件的磨損。怎樣才能確定是否存在磨屑顆粒呢？

金屬顆粒示例：鋼鐵、氧化鋁、鑄鐵等。

3、軟件怎樣才能精確地進(jìn)行顆粒分析

現(xiàn)在的軟件能夠使操作者對直徑45 mm的整個標(biāo)準(zhǔn)濾片進(jìn)行顆粒的分析。特別是在偏振光照明時，濾片上的反光顆粒會被標(biāo)記為金屬，并與不反光的顆粒區(qū)別開來。

傳統(tǒng)雙掃描法

到目前為止，顆粒分析的數(shù)據(jù)需要對濾片進(jìn)行兩次掃描才能獲得。正交偏振光照明時，*掃描濾片確認(rèn)總的顆粒數(shù)（所有的顆粒都呈暗黑色）。非偏振光照明時，二次掃描濾片區(qū)分反光和非反光顆粒。

單掃描技術(shù)

   CIX100清潔度分析系統(tǒng)

CIX100分析系統(tǒng)，采用了創(chuàng)新的偏振光方法，其*的一體式掃描技術(shù)，單次掃描即可探測到反光（閃亮的和金屬光澤的）和非反光（暗黑的或非金屬光澤的）的顆粒。

這種單次掃描技術(shù)基于波長分離和顏色探測，能夠提供非常精確的結(jié)果，檢測量可提高一倍。

電動掃描臺上的濾紙經(jīng)自動掃描后，探測的數(shù)據(jù)結(jié)果可保存到數(shù)據(jù)庫做為*記錄。由于這種技術(shù)符合標(biāo)準(zhǔn)（比如ISO 16232和ISO 4407），以及/或公司標(biāo)準(zhǔn)，因此的機(jī)械部件生產(chǎn)廠商都已開始采用這種解決方案。

清潔度分析軟件和重型裝備制造

上述磨屑顆粒分析，尤其是判定金屬與非金屬顆粒，在汽車制造行業(yè)，以及重型裝備制造行業(yè)中尤其重要。它被用來確定是否存在污染物，以及是什么樣的污染物，并在生產(chǎn)過程中加強(qiáng)控制和維護(hù)。

部件的清潔度檢測是制造過程中的核心，特別是在汽車和航空工業(yè)中。

這里所說的軟件還可以用于分析流過機(jī)械部件的液壓流體、油和其它流體，以幫助確定這些流體中是否存在顆粒，以及它們對產(chǎn)品性能、摩擦、傳導(dǎo)和腐蝕的影響（軟件通常會集成到整個流體污染控制與調(diào)節(jié)系統(tǒng)里）。zui終，為了同一個目的—— 延長機(jī)械部件的使用壽命。

本文作者：Jennifer Wrigley

工業(yè)顯微鏡高級產(chǎn)品，已在奧林巴斯任職10余年，負(fù)責(zé)工業(yè)顯微鏡在美國地區(qū)的銷售。對技術(shù)清潔及半導(dǎo)體設(shè)備有所研究。