現(xiàn)貨Fischer DualScope FMP40測(cè)厚儀代理

影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素

　　1．影響因素的有關(guān)說明

　　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

　　g 磁場(chǎng)

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

　　h 附著物質(zhì)

　　本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

　　i 測(cè)頭壓力

　　測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測(cè)頭的取向

　　測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　2．使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

　　a 基體金屬特性

　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　c 邊緣效應(yīng)

　　不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　d 曲率

　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

　　e 讀數(shù)次數(shù)

　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

　　f 表面清潔度

　　測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

現(xiàn)貨Fischer DualScope FMP40測(cè)厚儀代理介紹：

• FMP40涂層測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別底材

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）

• 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀電池供電和交流電源(可選件)供電

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可以儲(chǔ)存 20,000 個(gè)讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可以儲(chǔ)存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀的數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠展現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀的測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告

 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
磁感應(yīng)方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。