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高溫四探針測(cè)試儀

參考價(jià) 456789
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 寧波瑞柯微智能科技有限公司
  • 品牌 ROOKO/瑞柯
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 浙江
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/6/13 12:45:44
  • 訪問次數(shù) 3891

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ROOKO[瑞柯微]儀器經(jīng)營(yíng)--專注于粉體和材料測(cè)試與分析儀器的產(chǎn)銷及服務(wù);產(chǎn)品服務(wù)于科研、院校、實(shí)驗(yàn)室及企業(yè)研發(fā)部門;“質(zhì)量為本、服務(wù)先行”之經(jīng)營(yíng)理念;致力于創(chuàng)新為客戶提供解決方案;堅(jiān)持差異化經(jīng)營(yíng),求同存異;以創(chuàng)新,改變認(rèn)知,提升品質(zhì)為使命;采用新技術(shù)、新方法、提升客戶價(jià)值為全員謀福祉為愿景;堅(jiān)持修己、求進(jìn)、創(chuàng)新為價(jià)值觀;與廣大用戶共進(jìn)步,共發(fā)展.目前經(jīng)營(yíng)如下系列產(chǎn)品:

1.粉體、顆粒測(cè)試儀器系列;2.材料電性能測(cè)試儀系列;3.流變儀和粘度計(jì)系列;

4.熱分析儀器系列.

1.粉體、顆粒測(cè)試儀器系列:

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀,堆密度儀,粉體綜合特性測(cè)試儀,粉屈服強(qiáng)度測(cè)試儀.粉體流變儀,粉末電阻率測(cè)試儀,休止角測(cè)定儀,安息角測(cè)定儀,松裝密度測(cè)定儀,振實(shí)密度儀,斯柯特容量計(jì),霍爾流速計(jì),表觀密度測(cè)定儀,顆粒強(qiáng)度測(cè)定儀.

2.導(dǎo)體/半導(dǎo)體/絕緣材料電性能測(cè)試系列:

材料表面/體積電阻率測(cè)試儀、四探針方阻/電阻率測(cè)試儀、高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)、電壓降測(cè)試儀.3.流變儀和粘度計(jì)系列;4.熱分析儀器系列.


堆密度儀,松裝密度儀,振實(shí)密度儀,四探針測(cè)試儀,堆積密度測(cè)定儀,安息角測(cè)定儀,電壓降測(cè)試儀,方阻測(cè)試儀,表面和體積電阻率測(cè)試儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1萬-3萬
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,交通,航天,汽車 自動(dòng)化度 全自動(dòng)

高溫四探針測(cè)試儀

采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制,解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

二.四探針測(cè)試儀適用行業(yè):Applicable industry:

用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

FT-351 high temperature four probe resistivity test system

一.四探針測(cè)試儀概述:

采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制,解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

二.四探針測(cè)試儀適用行業(yè):

用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

三.四探針測(cè)試儀型號(hào)及參數(shù)

規(guī)格型號(hào)

FT-351A

FT-351B

FT-351C

1.方塊電阻范圍

10-5~2×105Ω/□

10-6~2×105Ω/□

10-4~1×107Ω/□

2.電阻率范圍

10-6~2×106Ω-cm

10-7~2×106Ω-cm

10-5~2×108Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍

0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

10mA ---200pA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.1讀數(shù)

±2%

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤10%

PC軟件界面

顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式

雙電測(cè)量

8.四探針儀工作電源

AC 220V±10%.50Hz  <30W

9.誤差

≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果

≤15%

溫度(選購)

 

常溫 -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃

氣氛保護(hù)(氣體客戶自備))

常用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無色、無臭、氣態(tài)的單原子分子

溫度精度

沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C

升溫速度: e

常溫開始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘

高溫材料

采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征

PC軟件

測(cè)試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)!

電極材料

鎢電極或鉬電極

探針間距

直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于13mm直徑

標(biāo)配外(選購):

電腦和打印機(jī)1套;2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè);

高溫電源:

供電:400-1200℃ 電源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電源380V;功率9KW:

 

 



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