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USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 上海西努光學科技有限公司
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2024/11/21 8:12:10
  • 訪問次數(shù) 4207

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西努光學創(chuàng)建于2003 年,主營工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學秉承“以光學為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路,經(jīng)過16年的努力,成為眾多企業(yè)、高校科研單位提供各種專業(yè)化的光學系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
2016 年,我們積極引進檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù)。

西努光學 誠信為您服務(wù) 專業(yè)為您服務(wù)

垂詢專線:400-6807517  

微信服務(wù)號:cinvoptics/西努光學

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奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機,標樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學設(shè)備

奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率,因此zui適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

◆測定反射率
測定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點的反射率。


◆測定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。


◆測定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關(guān)數(shù)值。


◆測定透過率
從受臺下部透過φ2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。(選配)


◆測定入射角為45度的反射率
從側(cè)面向45度面反射φ2mm的平行光,測定其反射率。(選配)



域的高精度&高速測定

◆實現(xiàn)高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定,從而實現(xiàn)高速測定。


◆zui適用于測定細小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計了可以在φ17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。


◆測定反射率時,不需要背面防反射處理
將物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進行被檢測物背面的防反射處理,就可測定zui薄0.2mm的反射率*。


◆可選擇的膜厚測定方法
USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇*的測定方法。

:規(guī)格

 

反射率測定 透過率測定*1 45度反射測定*1
名稱 近紅外顯微分光測定儀 近紅外顯微分光測定儀用 
透過測定選配件
近紅外顯微分光測定儀用 
45度反射測定選配件
型號 USPM-RU-W
測定波長 380~1050nm
測定方法 對參照樣品的比較測定 對*基準的透過率測定 對參照樣品的比較測定
測定范圍 參照下列對物鏡的規(guī)格 約ø2.0mm
測定 
再現(xiàn)性(3σ)*2
反射率測定 使用10×、20×物鏡時 ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
±0.2[%]以下(上述以外)
±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外)
使用40×物鏡時 ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
±0.5[%]以下(上述以外)

 

厚膜測定 ±1%  -
波長顯示分解能 1nm
照明附件 鹵素燈光源  JC12V 55W(平均壽命700h)
位移受臺 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
承重:3 kg 
工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
承重: 1 kg 
工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質(zhì)量 主體:約26 kg(PC除外) 主體:約31 kg(PC除外)*3
控制電源箱:約6.7kg
裝置尺寸 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境 水平無振動的場所 
溫度:15~30℃ 
濕度:15~60%RH(無結(jié)露)

*1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡
型號 USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X
倍率 10x 20x 40x
NA 0.12 0.24 0.24
測定范圍*4 70μm 34μm 17μm
工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm
樣品的曲率半徑 ±5mm~ ±1mm~ ±1mm~

*4 點徑

 

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