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NI系統(tǒng)集成|測試系統(tǒng)集成|測試系統(tǒng)開發(fā)|電子測試系統(tǒng)
- 公司名稱 深圳市卓能達(dá)自動(dòng)化測試技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 深圳市保安區(qū)沙井新橋新玉路48號大宏科技園10樓
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/4/9 6:06:53
- 訪問次數(shù) 496
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1 MCU簡介及發(fā)展趨勢 MCU(Micr0 Controller Unit)微控制器,又稱單片微型計(jì)算機(jī)簡稱單片機(jī),是隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)和發(fā)展,將計(jì)算機(jī)的CPU、RAM、ROM、定時(shí)器和多種I/O接[j集成在一片芯片上,形成芯片級的計(jì)算機(jī),為不同的應(yīng)用場合做不同組合控制。 MCU按其存儲器類型可分為MASK(掩模)ROM、OTP(一次性可編程)ROM、FLASH RO等類型,也可按其總線位數(shù)分為:4位、8位、16位、32位、64位等類型。目前,雖然隨著生產(chǎn)工藝和技術(shù)的進(jìn)步,32位MCU的發(fā)展勢頭非常迅猛,但是從市場銷售來看,8位MCU的出貨量占到了55%以上,仍是MCU市場的主導(dǎo)產(chǎn)品。高集成度,多功能化,低成本以及小體積是MCU的發(fā)展趨勢。 現(xiàn)在的MCU大都集成RISC CPU CORE、ADC/DAC、ROM、FLASH、PLL電路等豐富的可供用戶使用的資源。(如圖1) 目前市場主流MCU已經(jīng)成為一種數(shù)字、模擬混合在一起的混合信號芯片,MCU產(chǎn)品集成越來越多的模擬功能和新的外圍電路成為MCU產(chǎn)品發(fā)展的重要方向,同時(shí),這種發(fā)展趨勢也對MCU的測試提出了新的要求。 2 MCU的測試技術(shù) 針對MCU集成度的提高,要求對其各功能模塊的進(jìn)行全面測試,要求涵蓋廣泛的功能測試,這才能保證MCU芯片的可靠性及穩(wěn)定性。 2.1 內(nèi)置高性能RISC CPU的測試 內(nèi)置高性能RISC CPU是MCU芯片的核心部分,低功耗高性能的RISC架構(gòu)被廣泛的應(yīng)用于目前MCU的設(shè)計(jì),其發(fā)展的趨勢是:更高的執(zhí)行指令速度,更為豐富的指令功能,更為方便實(shí)現(xiàn)的應(yīng)用。 MCU內(nèi)置具有能進(jìn)行高速數(shù)據(jù)處理的CPU內(nèi)核速度由早期的5 MHz提升至20 MHz以上,甚至已經(jīng)達(dá)到200 MHz,MCU的高性能RISC CPU內(nèi)核結(jié)構(gòu)也從12或14位寬指令集擴(kuò)展為16位指令集。
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