離子色譜(IC)、氣相色譜(GC)、液相色譜(LC)、原子吸收光譜儀(AAS)、等離子體質譜儀(ICP-MS)、等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-AES/OES)、樣品前處理儀器、色譜耗材和樣品瓶等
產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 磁質譜 | 應用領域 | 環(huán)保,食品,農業(yè) |
賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR可以同時分析周期表中的幾乎所有元素,濃度范圍從mg/L到pg/L ;兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素;的確信不含干擾的元素圖譜;瞬時信號的多元素檢出器;并能與多種進樣和分離技術聯用,例如激光進樣。目前,已經安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺,服務于環(huán)境監(jiān)測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業(yè)到地質和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾,這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的標準。 即使沒有樣品制備步驟,消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點:
●線性范圍寬:線性范圍達12個數量級,不同模式自動切換校正;
●靈敏度高:可使用賽默飛新的Jet接口技術,提供的靈敏度;
●具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫,采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
ELEMENT 2主要特點:
1、具備多元素分析能力
●多元素檢測器具備處理瞬態(tài)信號(包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕)的速度
●從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
●與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容
2、全自動的常規(guī)分析
●自動調節(jié)所有參數,包括透鏡、氣流和炬位,以獲得可重復而可靠的系統(tǒng)設置
●全面、可定制的質量控制系統(tǒng)
●可靠耐用,可作為全年無休的生產控制工具,樣品通量
3、具有靈活性和易用性的先進研究工具
●擁有權限進入方法開發(fā)的所有儀器參數
●具有高質量分辨率,可識別受干擾的同位素光譜: 生成明確的元素光譜
●無論是否存在干擾情況,也能獲得高精度的同位素比檢測
●熱和冷等離子體狀態(tài)
●高穩(wěn)定性的同位素比