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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產品展廳>分析儀器>光譜>輝光放電光譜儀>Profiler 2 Profiler 2射頻輝光放電光譜儀

Profiler 2 Profiler 2射頻輝光放電光譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 HORIBA科學儀器事業(yè)部
  • 品牌 HORIBA/堀場
  • 型號 Profiler 2
  • 產地 法國
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/1/23 16:06:20
  • 訪問次數(shù) 3683

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HORIBA 科學儀器事業(yè)部(HORIBA Scientific)隸屬 HORIBA 集團,致力于為用戶提供先進的檢測和分析儀器:包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質和XRF等分析儀器。

結合旗下的技術優(yōu)勢,包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術Jobin Yvon,以及擁有*技術優(yōu)勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天,HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經(jīng)遍布各地,并在中國實現(xiàn)了銷售和服務的本土化,位于上海、北京、廣州三地的產品專家、售后服務團隊以及全國各地的代理商機構可充分保障國內用戶的技術咨詢以及售后服務需求。

HORIBA歐洲總部

GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進行超快鍍層分析的理想工具,非常適合于導體(和/或)非導體復合鍍層的分析。可分析70多種元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一次測試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。
    GD-Profiler 2可分析幾納米到200微米的深度,深度分辨率小于1納米。GD-Profiler 2采用了脈沖式射頻輝光源,可有效分析熱導性能差以及熱敏感的樣品。此外,還采用了多項技術,如高動態(tài)檢測器(HDD)可測試ppm-100%的濃度范圍,Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。主要應用領域包括鍍鋅鋼板、彩涂板、新型半導體材料、LED晶片、硬盤、有機鍍層、鋰電池、玻璃、陶瓷等等。


GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀技術參數(shù):

1、射頻發(fā)生器-標準配置、復合D級標準、穩(wěn)定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩(wěn)定時間短,表面信息無任何失真。

2、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜,也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。

3、Polyscan多道(同時)光譜儀可全譜覆蓋,光譜范圍從110nm-800nm,可測試遠紫外元素C、H、O、N和Cl。

4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有zui大的光通量,因而擁有的光效率和靈敏度。

5、高動態(tài)檢測器(HDD)可快速、高靈敏的檢測ppm-100%含量的元素。動態(tài)范圍為5×1010

6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。

7、功能強大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告。

8、HORIBA*的單色儀(選配)可大地提高儀器靈活性,可實現(xiàn)固定通道外任意一個元素的同步測試,稱為n+1。

9、適用于ISO14707和16962標準。

更多指標參數(shù)請訪問HORIBA



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