UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
- 公司名稱 深圳市京都玉崎電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2015/12/3 17:16:48
- 訪問次數(shù) 463
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經(jīng)營范圍:光學(xué)設(shè)備、電子計測儀器、科學(xué)儀器、機(jī)械加工設(shè)備、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、物流保管用品、化學(xué)用品、FA自動化
深圳市京都玉崎電子有限公司
深圳市龍華新區(qū)東環(huán)一路華聯(lián)大廈201室
:林情
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UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
特征:
●各種平頂材料上厚度測量OK
變質(zhì)硅系,硅系,聚氨酯系等成分形狀的東西,2成分系也去泡了東西的話全部平頂材料上厚度測量。
●接縫底的變形的影響
備份材料澎湃接縫深度變化的場合任何測量沒有影響。另外,傾斜狀接頭深度變化的場合,底部的傾斜15度的程度的話可以測量。
●口袋的類型,攜帶方便
本體重量僅有290克輕了現(xiàn)場作業(yè)的性富,到哪里都可以輕松的攜帶。
●備份材料種類的影響
沒有備份材料債券,斷路器一、平板狀備份材,圓棒狀備份材料等全部的條件測量可能。
●測量條件的設(shè)定簡單
麥克風(fēng)口處理器內(nèi)置操作觸摸按鍵,只需按下測量條件的設(shè)定簡單地能進(jìn)行。
●選擇功能
任何價值,其設(shè)定值作為基準(zhǔn)的差距可以顯示(DIF功能)。
規(guī)格以及性能:
表示方式 | 液晶數(shù)字方式 |
測量方法 | 脈沖反射方式(一探觸子法) |
使用周波數(shù) | 5MHz |
表示位數(shù) | 3位數(shù) |
zui小單位 | 0.1毫米 |
測量范圍 | 2.5~40毫米(平頂材料) |
誤差范圍 | ±0.5毫米 |
音速調(diào)整范圍 | 500~9999 m / sec |
表示次數(shù) | 2次/ sec |
照明燈具 | EL背照燈方式 |
自動切割 | 測量中斷后,約5分鐘 |
耦合標(biāo)志 | 表示部馬克表示 |
口―電池表示 | 表示部馬克表示(BATT) |
選擇功能 | 任意設(shè)定其設(shè)定值作為基準(zhǔn)的差距的表示(DIF功能) |
電源 | DC1.5 V(單3堿干電池)一書 工作時間:約30小時以上 EL照明點(diǎn)燈時:約20時間以上 |
使用溫度范圍 | -10℃~+50℃ |
外形尺寸 | W66×H140×D28mm |
重量 | 約290克探針約50克 |