臺(tái)式日本掃描電鏡
- 公司名稱 東莞市協(xié)美電子有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/8/24 17:21:36
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怡星歡迎您 Star Joy Limited
怡星公司成立于2004年，主要從事專業(yè)儀器代理。從業(yè)十年來獲得國內(nèi)廣大客戶的信賴與支持。我們的服務(wù)項(xiàng)目包括儀器銷售丶維修丶保養(yǎng)丶實(shí)驗(yàn)技術(shù)開發(fā)丶應(yīng)用技術(shù)開發(fā)等等。我的團(tuán)隊(duì)擁有*的知識(shí)丶豐富的經(jīng)驗(yàn)丶熱誠的服務(wù)態(tài)度，是您選購儀器設(shè)備的Z佳夥伴。
怡星公司Star Joy Limited主要代理品牌有：JEOL日本電子丶日本力士科RHESCA丶日本怡星IS全自動(dòng)磨拋機(jī)丶英國牛津Oxford等世界產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式掃描電子顯微鏡，氬離子研磨儀丶全自動(dòng)磨拋機(jī)丶可焊性測(cè)試儀等行業(yè)相關(guān)儀器。
營(yíng)業(yè)據(jù)點(diǎn)
東莞市協(xié)美電子有限公司
東莞市協(xié)美電子有限公司 怡星(中國)有限公司
怡星公司Star Joy Limited在華轉(zhuǎn)投資機(jī)構(gòu)包括：怡星(中國)有限公司，其子公司為東莞市協(xié)美電子有限公司。營(yíng)業(yè)辦事處包括上海丶東莞丶香港丶臺(tái)北等地區(qū)。為您提供*的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
JEOL 日本電子
怡星(中國)有限公司
怡星Star Joy Limited
東莞市協(xié)美電子有限公司Star Joy Limited主要代理JEOL 日本電子SEM、OXFORD 英國牛津、日本RHESCA公司產(chǎn)品，并提供使用客戶儀器相關(guān)技術(shù)轉(zhuǎn)移及專業(yè)的維修保養(yǎng)。讓您享受進(jìn)口儀器的*性能及怡星的在地優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
| 日本掃描電鏡通過超級(jí)混合式物鏡(SHL)進(jìn)行高分辨率觀察 JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場(chǎng)和靜磁場(chǎng)疊加的超級(jí)混合式物鏡(SHL)，由于減少了色差及球差，*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外，SHL不會(huì)對(duì)樣品形成磁場(chǎng)影響，因此觀察磁性材料的樣品和進(jìn)行EBSD測(cè)試可以不受制約。 |  |
 | 日本掃描電鏡低加速電壓下的能量選擇能量過濾器位于高位檢測(cè)器 (UED)的正下方，可以選擇能量。即使在低加速電壓下，也能夠精確地選擇二次電子和背散射電子，因而可以通過低加速電壓下的背散射電子像，觀察樣品的淺表面。 |
日本掃描電鏡通過GENTLE BEAM （即柔和光束GB模式）觀察樣品的淺表面給樣品加以偏壓(GB)，對(duì)入射電子有減速、對(duì)釋放出的電子有加速作用。即使入射電子束到達(dá)樣品時(shí)的能量很低，也可以獲得高分辨率、高信噪比的圖像。如果利用能施加更高偏壓的GB模式，用數(shù)十電子伏能量的入射電子束，就可以進(jìn)行更高分辨率的觀察。 |  |
 | 日本掃描電鏡通過多個(gè)檢測(cè)器獲取樣品的所有信息JSM-7800F配有四種檢測(cè)器：高位檢測(cè)器(UED) 、高位二次電子檢測(cè)器(USD)、背散射電子檢測(cè)器(BED)和低位檢測(cè)器(LED)。UED過濾器的電壓不同，二次電子和背散射電子的數(shù)量會(huì)改變，因此可以選擇電子的能量，USD檢測(cè)被過濾器彈回的低能量電子，BED通過檢測(cè)低角度的背散射電子，能清楚地觀察通道襯度。利用LED的照明效果能夠獲得含有形貌信息的、富有立體感的圖像。 |
日本掃描電鏡應(yīng)用實(shí)例
 | 低加速電壓下的觀察 樣品: 石墨烯 到達(dá)能量80eV |
 | 利用GBSH觀察 樣品：介孔二氧化硅 到達(dá)樣品的能量: 1keV |
 | 觀察磁性材料樣品 樣品: 磁鐵礦納米顆?！〉竭_(dá)樣品的能量: 1keV |
 |  |
| UED和USD能同時(shí)獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖)，因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息，金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同，而背散射電子像中原子序數(shù)高的金顆粒則顯得明亮。樣品: 金負(fù)載型TiO2催化劑(2kV)g | |
| 磁性樣品的EBSD測(cè)試 | |
 |  |
| 分析點(diǎn)數(shù): 118585 尺寸: Xzui大: 80.00微米, Y zui大: 79.89微米 步長(zhǎng): 0.25微米 相: Nd2Fe14B | 從樣品中獲得的EBSD花樣實(shí)例 ( 在任意點(diǎn)上獲取) |
 |  |  |
| ND | TD | RD |
日本掃描電鏡產(chǎn)品規(guī)格
| 分辨率 | 0.8 nm(15 kV) 1.2 nm(1 kV) 3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm) |
| 倍率 | ×25 ～ ×1,000,000(SEM) |
| 加速電壓 | 0.01kV ～ 30kV |
| 樣品照射電流(探針電流) | 數(shù)pA～200nA |
| 自動(dòng)光闌角*控制透鏡 | 內(nèi)置 |
| 檢測(cè)器 | 高位檢測(cè)器(UED) 低位檢測(cè)器(LED) |
| 能量過濾器 | UED過濾器電壓可變功能內(nèi)置 |
| Gentle Beam （GB模式即柔和光束） (樣品偏壓) | 內(nèi)置 |
| 數(shù)字圖像 | 1,280 x 960 像素, 800 x 600 像素 |
| 樣品交換室 | 由TYPE2A構(gòu)成 |
| 樣品臺(tái) | 全對(duì)中測(cè)角樣品臺(tái)、5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
| X-Y | X:70mm, Y:50mm |
| 傾斜 | －5 ～ ＋70° |
| 旋轉(zhuǎn) | 360° |
| 工作距離 | 2mm to 25mm |
| 真空系統(tǒng) | SIP 2臺(tái)、TMP、RP |
| 節(jié)能設(shè)計(jì) | 正常運(yùn)行時(shí): 1.3kVA 節(jié)能模式時(shí): 0.8ｋV |
JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場(chǎng)和靜磁場(chǎng)疊加的超級(jí)混合式物鏡(SHL)，由于減少了色差及球差，*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外，SHL不會(huì)對(duì)樣品形成磁場(chǎng)影響，因此觀察磁性材料的樣品和進(jìn)行EBSD測(cè)試可以不受制約。
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