CMI760PCB銅厚測(cè)試儀

CMI 700：高靈活性的銅厚測(cè)試儀

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI 760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。

CMI 760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。

同時(shí)CMI 760具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI 760配置包括：

• CMI 760主機(jī)
• SRP-4探頭
• SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)）
• NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片

選配配件：

• ETP探頭
• TRP探頭
• SRG軟件

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測(cè)量范圍：

化學(xué)銅：10 μin – 500 μin 0.25 μm – 12.7 μm

電鍍銅：0.1 mil – 6 mil 2.5 μm – 152 μm

線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil 203 μm – 6350 μm

準(zhǔn)確度：±1% ±0.1 μm參考標(biāo)準(zhǔn)片

精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試zui小孔直徑：35 mils 899 μm

測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils 1 – 102 μm

電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

準(zhǔn)確度：±0.01 mil 0.25 μm < 1 mil 25 μm

精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）

分辨率：0.01 mils 0.1μm

TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

zui小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils 254 – 1016 μm

孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

zui大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）

zui小可測(cè)試板厚：板厚的zui小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的zui小孔孔徑值高3mils76.2μm

準(zhǔn)確度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil 0.25 μm < 1 mil 25 μm

±10%≥1mil25 μm

精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試

分辨率：0.01 mil0.1 μm

顯示 6位LCD數(shù)顯
測(cè)量單位 um-mils可選
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值max、zui小值min
接口 232串口,打印并口
電源 AC220
儀器尺寸 290x270x140mm
儀器重量 2.79kg