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OLS4100 工業(yè)共聚焦顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準

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元中銳科集成檢測技術有限公司是工業(yè)檢測技術和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數碼光學顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質管理、計量,過程控制等專業(yè)檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案 。
服務對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質,石油石化等材料研究行業(yè),機械及微機械領域,以及電子領域、光電顯示制造、電子零件制造、半導體、液晶及MEMS,NANO等諸多領域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強有力的技術支持。
我們的技術:可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術、精密量測技術、全自動顯微觀察及測量、數字圖象處理和識別,自動控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation技術 Technology;集成 Integration;服務 Service的理念,
堅持專業(yè)周到細致的服務,不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值,成為工業(yè)檢測和質量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

工業(yè)共聚焦顯微鏡采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統(tǒng)(能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能),LEXT OLS4100 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量。

作為表面粗糙度測量的新標準,奧林巴斯開發(fā)了LEXT OLS4100。對LEXT OLS4100 進行了與接觸式表面粗糙度測量儀同樣的校正,并在LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數和濾鏡。這樣,對于使用接觸式表面粗糙度測量儀的用戶來說,能得到操作性和互換性良好的輸出結果。另外,還搭載了粗糙度模式,可以用自動拼接功能測量樣品表面直線距離zui長為100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數,因此具有相互兼容的操作性和測量結果。

截面曲線 Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr
粗糙度曲線 Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75
波動曲線 Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr
負荷曲線 Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
基本圖形 R, Rx, AR, W, , AW, Wte
粗糙度 (JIS1994) Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp
其他 R3z, P3z, PeakCount

適應下一代參數
OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度(3D)參數。通過評估平面區(qū)域,可以進行高可靠性的分析。

振幅參數 Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa
功能參數 Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp
體積參數 Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc
橫向參數 Sal, Str

• LEXT OLS4100 與表面粗糙度測量儀的結果相兼容。 
surface roughness gauge

微細粗糙度

Micro Roughness1
Micro Roughness2

使用接觸式表面粗糙度測量儀,無法測量比探針的針尖直徑更細微的表面輪廓。而OLS4100 有著微小的激光光斑直徑,所以能夠對微細形狀進行高分辨率的粗糙度測量。

非接觸式測量

使用接觸式表面粗糙度測量儀測量柔軟的樣品時,樣品容易受到探針損傷而變形。另外,帶有粘性的樣品會粘在探針上,無法得到正確的測量結果。而非接觸式的激光顯微鏡OLS4100,不會影響樣品的表面狀態(tài),可以準確的測量樣品 
的表面粗糙度。

Soft Specimen
柔軟的樣品
Adhesive Specimen
帶有粘性的樣品

Polymer Film 3D image
高分子薄膜3D 影像(上)和粗糙度測量結果(左)

 

Results of Roughness Measurement

工業(yè)共聚焦顯微鏡主機
LSM 部分 光源、檢出系統(tǒng) 光源:405 nm 半導體激光 
檢出系統(tǒng):光電倍增管
總倍率 108x ~ 17,280x
變焦 光學變焦1x ~ 8x
測量 平面測量 重復性 00x: 3σn-1=0.02 µm
正確性 測量值的±2%以內
高度測量 方式 物鏡轉換器上下驅動方式
行程 10 mm
內置比例尺 0.8 nm 
移動分辨率 10 nm
顯示分辨率 1 nm 
重復性 50x: σn-1=0.012 μm
正確性 0.2 + L/100 μm 以下(L=測量長度μm)
彩色觀察部分 光源、檢查系統(tǒng) 光源:白色LED, 
檢查系統(tǒng):1/1.8 英寸200 萬像素單片CCD
變焦 數碼變焦1x ~ 8x
物鏡轉換器 6 孔電動物鏡轉換器
微分干涉單元 微分干涉滑片:U-DICR, 
內置偏振光片單元
物鏡 明視場平面半消色差透鏡5x、10x 
LEXT 平面復消色差透鏡20x、50x、100x
Z 對焦部分行程 100 mm 
XY 載物臺 100×100 mm(電動載物臺), 
選件: 300×300 mm(電動載物臺)

為專為在工業(yè)環(huán)境下實施檢測設計的A 類設備。如在住宅區(qū)內使用可能會干擾其他設備。

物鏡
型號 倍率 視場 工作距離(WD) 數值孔徑(N/A)
MPLFLN5X 108x-864x 2,560-320 μm 20.0 mm 0.15
MPLFLN10X 216x-1,728x 1,280-160 μm 11.0 mm 0.30
MPLAPON20XLEXT 432x-3,456x 640-80 μm 1.0 mm 0.60
MPLAPON50XLEXT 1,080x-8,640x 256-32 μm 0.35 mm 0.95
MPLAPON100XLEXT 2,160x-17,280x 128-16 μm 0.35 mm 0.95


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