JSM-7800F日本掃描電鏡
- 公司名稱 東莞市協(xié)美電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2015/7/13 15:11:41
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日本掃描電鏡通過超級混合式物鏡(SHL)進行高分辨率觀察 JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL),由于減少了色差及球差,*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外,SHL不會對樣品形成磁場影響,因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。 | |
日本掃描電鏡低加速電壓下的能量選擇能量過濾器位于高位檢測器 (UED)的正下方,可以選擇能量。即使在低加速電壓下,也能夠精確地選擇二次電子和背散射電子,因而可以通過低加速電壓下的背散射電子像,觀察樣品的淺表面。 | |
日本掃描電鏡通過GENTLE BEAM (即柔和光束GB模式)觀察樣品的淺表面給樣品加以偏壓(GB),對入射電子有減速、對釋放出的電子有加速作用。即使入射電子束到達樣品時的能量很低,也可以獲得高分辨率、高信噪比的圖像。如果利用能施加更高偏壓的GB模式,用數(shù)十電子伏能量的入射電子束,就可以進行更高分辨率的觀察。 | |
日本掃描電鏡通過多個檢測器獲取樣品的所有信息JSM-7800F配有四種檢測器:高位檢測器(UED) 、高位二次電子檢測器(USD)、背散射電子檢測器(BED)和低位檢測器(LED)。UED過濾器的電壓不同,二次電子和背散射電子的數(shù)量會改變,因此可以選擇電子的能量,USD檢測被過濾器彈回的低能量電子,BED通過檢測低角度的背散射電子,能清楚地觀察通道襯度。利用LED的照明效果能夠獲得含有形貌信息的、富有立體感的圖像。 |
日本掃描電鏡應(yīng)用實例
低加速電壓下的觀察 樣品: 石墨烯 到達能量80eV | |
利用GBSH觀察 樣品:介孔二氧化硅 到達樣品的能量: 1keV | |
觀察磁性材料樣品 樣品: 磁鐵礦納米顆?!〉竭_樣品的能量: 1keV | |
UED和USD能同時獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖),因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息,金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同,而背散射電子像中原子序數(shù)高的金顆粒則顯得明亮。樣品: 金負載型TiO2催化劑(2kV)g |
磁性樣品的EBSD測試 | |
分析點數(shù): 118585 尺寸: Xzui大: 80.00微米, Y zui大: 79.89微米 步長: 0.25微米 相: Nd2Fe14B | 從樣品中獲得的EBSD花樣實例 ( 在任意點上獲取) |
ND | TD | RD |
日本掃描電鏡產(chǎn)品規(guī)格
分辨率 | 0.8 nm(15 kV) 1.2 nm(1 kV) 3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm) |
倍率 | ×25 ~ ×1,000,000(SEM) |
加速電壓 | 0.01kV ~ 30kV |
樣品照射電流(探針電流) | 數(shù)pA~200nA |
自動光闌角*控制透鏡 | 內(nèi)置 |
檢測器 | 高位檢測器(UED) 低位檢測器(LED) |
能量過濾器 | UED過濾器電壓可變功能內(nèi)置 |
Gentle Beam (GB模式即柔和光束) (樣品偏壓) | 內(nèi)置 |
數(shù)字圖像 | 1,280 x 960 像素, 800 x 600 像素 |
樣品交換室 | 由TYPE2A構(gòu)成 |
樣品臺 | 全對中測角樣品臺、5軸馬達驅(qū)動 |
X-Y | X:70mm, Y:50mm |
傾斜 | -5 ~ +70° |
旋轉(zhuǎn) | 360° |
工作距離 | 2mm to 25mm |
真空系統(tǒng) | SIP 2臺、TMP、RP |
節(jié)能設(shè)計 | 正常運行時: 1.3kVA 節(jié)能模式時: 0.8kV |
JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL),由于減少了色差及球差,*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外,SHL不會對樣品形成磁場影響,因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。