EDX660- 八大重金屬分析儀
參考價(jià) | ¥ 208000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳三思縱橫科技股份有限公司
- 品牌
- 型號 EDX660-
- 產(chǎn)地 廣東深圳
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2017/8/2 9:04:14
- 訪問次數(shù) 837
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[技術(shù)參數(shù)]
探測器: 進(jìn)口半導(dǎo)體探測器,分辨率達(dá)139eV
X光管: 鎢(W)靶,zui大電壓50kV,zui大電流1mA
使用壽命長達(dá)5萬小時
高壓電源: 精密X射線電源,zui高輸出電壓50kV
穩(wěn)定度每8小時小于0.05%
濾光片: 6組濾光片電動切換,有效降低背景干擾
準(zhǔn)直器: 直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
免去人工操作煩惱
對焦系統(tǒng): 旋鈕視覺對焦
樣品腔: 大氣
樣品觀察: 高清晰彩色CCD射線頭
X射線防護(hù): 三重X射線防護(hù)(樣品腔、機(jī)殼、程序控制),
低于GB16355-1996防輻射標(biāo)準(zhǔn)
輸入電壓: AC 220V/50HZ
功耗: 260W
樣品腔尺寸: 660×400×135mm
外型尺寸: 680×460×475mm
重量: 40Kg
[性能指標(biāo)]
可測元素: 硫(S)-鈾(U)
同時可測元素: 36種
分析物質(zhì)狀態(tài): 固態(tài)、粉末、液體
含量分析范圍: 0.0002~*
含量檢出限: 2ppm
含量相對誤差: 5~10%
可測鍍層: zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機(jī)薄膜
精度: zui高可達(dá)0.01um
厚度相對誤差: 單層5%,多層10%
zui小測量直徑: 2mm
分析時間: 60~300S
[功能特點(diǎn)]
采用進(jìn)口的型探測器,對超低含量的元素都能探測;
自動安全的高壓防護(hù)電路設(shè)計(jì);
*的光路系統(tǒng),增大X射線強(qiáng)度,減少散射背景;
專門針對RoHS、無鹵素、八大重金屬等環(huán)保指令有害元素的優(yōu)化;
緊密封閉的腔體設(shè)計(jì)、電路控制、機(jī)械控制三重X射線防護(hù);
靈活精準(zhǔn)的分析軟件,既可進(jìn)行簡單、快速的物質(zhì)測試,滿足工業(yè)化生產(chǎn)需求,也
可通過科學(xué)的參數(shù)配置滿足復(fù)雜、高精度的元素分析;
采用了、復(fù)雜的X熒光分析算法,比任何同類軟件都要適應(yīng)各種復(fù)雜、多
樣的物質(zhì)分析,解決了傳統(tǒng)X熒光分析必須依賴相同基體標(biāo)樣局限;
對分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小自動進(jìn)行校正,減少因制樣不足而帶來的誤差。