JW-BK224 分子篩比表面分析儀
精微高博是比表面積測(cè)定儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書(shū),*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)**
精微高博分子篩比表面分析儀經(jīng)*技術(shù)鑒定，控制精度和測(cè)試精度達(dá)到*水平，已在國(guó)內(nèi)普遍應(yīng)用。

產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)：
集比表面積、微孔及介孔多種測(cè)試功能于一體，全面的測(cè)試解決方案；
采用*真空泵，系統(tǒng)極限真空度達(dá)到4.0×10-2Pa，適合于*連續(xù)使用；
采用進(jìn)口電容式薄膜壓力傳感器，量程寬，精度高、感應(yīng)快、穩(wěn)定性好；壓力傳感 器精度為0.15%（讀值），比滿量程標(biāo)定的精度提高25倍，為zui高水平；
設(shè)有4個(gè)樣品分析位，4個(gè)樣品預(yù)處理位,測(cè)試系統(tǒng)與預(yù)處理系統(tǒng)可同時(shí)工作，互不干擾；預(yù)處理可在測(cè)試位進(jìn)行，有利于保證樣品表面的zui潔凈狀態(tài)；

產(chǎn)品功能：
比表面積測(cè)定：
單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面
Langmuir比表面
t-plot法外表面積
t-plot法微孔總內(nèi)表面積
BJH吸附累積總孔內(nèi)表面積
BJH脫附累積總孔內(nèi)表面積

孔體積測(cè)定：
單點(diǎn)總孔體積
BJH吸附累積總孔體積
BJH脫附累積總孔體積
t-plot法微孔總孔體積

平均孔徑測(cè)定：
吸附平均孔徑
BJH吸附平均孔徑
BJH脫附平均孔徑
zui可幾孔徑

孔徑分布：
BJH吸附及脫附孔徑微分分布（dV/Dr-D）和（dV/dlogD-D）
BJH吸附及脫附孔徑積分分布（或累計(jì)分布）
MP法微孔孔徑分布

性能指標(biāo)：
測(cè)量范圍：   比表面  ≥ 0.01M2/g, 無(wú)規(guī)定上限     孔徑  0.35～400nm
重復(fù)精度：   ≤ ±2%
樣品數(shù)量：   4個(gè)測(cè)量樣品，4個(gè)預(yù)處理樣品
樣品類型：   粉末、顆粒、纖維、片狀等材料
測(cè)試效率：   多點(diǎn)BET比表面每個(gè)樣品10～15分鐘
                          從吸附等溫線測(cè)定孔徑分布每個(gè)樣品～100分鐘
                          吸、脫附等溫線測(cè)定及孔徑分布每個(gè)樣品～3.5小時(shí)
吸附氣體：   除氮?dú)猓ǜ呒僋2）外，根據(jù)需要還可用Ar、Kr、CO2 等
氮?dú)夥謮海?nbsp;  P/Po  0.0001～0.995， zui小可分辨相對(duì)壓力為 5×10-5
極限真空度： 4.0×10-2Pa
壓力精度：  ≤ ±0.15% （P.S）

靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試：
技術(shù)參數(shù)：
     JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)間不超過(guò)3分鐘/次，連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。
★ 重復(fù)性：± 0.015 %；
★ 精確度：± 0.02 %；
★ 測(cè)試分辨率：0.00001 g/cm3