BX-G103 激光橢偏儀 多入射角測量儀
- 公司名稱 北京北信科遠儀器有限責任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 BX-G103
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/10/26 13:51:07
- 訪問次數(shù) 1453
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土壤水分速測儀,土壤養(yǎng)分速測儀,土壤粉碎機,自動氣象站,風速風量計,雨量監(jiān)測儀,粉塵采樣器,煙塵煙氣分析儀,照度計,噪聲振動分析儀,有毒有害氣體檢測儀,家用一氧化碳報警器,測氧儀,水質(zhì)分析儀,PH計,電導率儀,液體濃度儀,超聲波測厚儀,硬度計,空調(diào)風管定量采樣機器人,立式人體紅外線測溫儀等農(nóng)業(yè)、實驗室、環(huán)保生態(tài)、檢測儀器儀表
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 環(huán)保,化工,石油,地礦,綜合 |
關鍵詞:激光橢偏儀 多入射角測量儀
激光測量儀 橢偏儀光源 橢偏儀 橢偏儀設備 激光測高儀精度
產(chǎn)品用途:
BX-G103激光橢偏儀 多入射角測量儀是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量??捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。
儀器特點:
l /*的測量方法:Delta測量范圍0-360o,無測量死角問題(即使在0o或180o附近時也具有極-高的準確度),也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結(jié)果的影響
l 原子層量級的極-高靈敏度和準確度:國、際、先、進的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實現(xiàn)并保證了極-高的準確度和穩(wěn)定性
l 百毫秒量級的快速測量:在保證極-高精度和準確度的同時,可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測量,可滿足快速多點檢測和批量檢測需求
l 精準方便的樣品對準:視頻式自準直樣品方位精密對準系統(tǒng),精度高、操作方便
l 簡單方便的儀器操作:一鍵操作即可完成復雜的樣品測量和分析;按照質(zhì)控要求進行數(shù)據(jù)多種導出;豐富的模型庫和材料庫方便用戶的高級操作;管理員/操作員不同的模式,保證儀器安全
技術參數(shù):