X熒光光譜儀EDX9000P性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結(jié)果
采用行業(yè)的極速探測器技術(shù)——（X-SDD）分辨率zui低至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，X熒光光譜儀EDX9000P檢出限更低
采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù) 
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率zui高可達(dá)1000Wcps
采用大功率X光管及*的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng) 
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
X熒光光譜儀EDX9000P光閘系統(tǒng) 
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng) 
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點(diǎn) 
多點(diǎn)測試 
2D全自動移動樣品臺——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點(diǎn)連續(xù)測試 
超小樣品檢測——zui小可測到0.2毫米 
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器zui小可達(dá)0.2毫米，針對超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測
X熒光光譜儀EDX9000P人性化的設(shè)計(jì) 
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點(diǎn)測試，點(diǎn)哪測哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時間，儀器可定時開始測試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時間，同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

X熒光光譜儀EDX9000P技術(shù)參數(shù)

X熒光光譜儀EDX9000P測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，zui薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9%
穩(wěn)定性：0.02%
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
X熒光光譜儀EDX9000P探測器：X-SDD探測器，分辨率可達(dá)125eV
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動切換
濾光片：4種濾光片自由切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70%
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）