LZ-990膜厚計/LE-373膜厚計/LE-200J膜厚計。
LZ-990膜厚計精度為：50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％
1000μm以上2000μm未満±3％
具體參數(shù)如下：
| ●仕様 | LZ-990「エスカル」 |
|---|---|
| 測定方式 | 電磁?渦電流式兼用（自動判別機能付き） |
| 測定対象 | 磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の 絶縁被膜 |
| 測定範囲 | 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils |
| 測定精度 | 50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％ |
| 適合規(guī)格 | 電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
| 分解能 | 100μm未満0.1μm100μm以上1μm |
| 表示方法 | デジタル（バックライト付LCD、表示zui小桁0.1μm） |
| データメモリ | 約1000點 |
| アプリケーション メモリ | 電磁式?渦電流式各8種 計16本の検量線を記憶 |
| 電源 | 電池1.5V （単4 アルカリ）× 2 |
| 消費電力 | 40mW（バックライト非點燈時） |
| 使用溫度範囲 | 0 ～ 40℃ |
| 機能 | 検量線メモリ（アプリケーション?メモリ）、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動電源ON/OFF、機能、時計機能、上下限設定、統(tǒng)計計算、バックライト機能、単位設定、等の各種機能15 種 |
| 外部出力 | パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能 |
| 寸法?質量 | 82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g |
| 付屬品 | ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標準板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ |
| オプション | 標準板（付屬品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」 |
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