X-Strata 牛津X射線熒光分析儀
- 公司名稱 重慶里博儀器有限公司武漢辦事處
- 品牌
- 型號(hào) X-Strata
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2016/12/18 15:43:24
- 訪問次數(shù) 498
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利用X射線熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、無損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列提供:
無損分析:無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性,確保每年都帶來收益
操作簡(jiǎn)單,只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
分析只需三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。