OmniScan SX Olympus 美國熱銷超聲波探傷儀OmniScan SX
- 公司名稱 上海量博實業(yè)有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號 OmniScan SX
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2016/6/2 14:59:59
- 訪問次數(shù) 797
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Olympus 美國熱銷超聲波探傷儀OmniScan SX
Olympus 美國熱銷超聲波探傷儀OmniScan SX??概述：
OmniScan SX觸摸屏配有全屏模式選項，使清晰度達到zui大化，用戶僅需在觸摸屏上進行簡單操作，便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進行菜單選擇，縮放，閘門調(diào)節(jié)，光標移動以及文本和數(shù)字的輸入。以上這些特性，加上其它附加的集成功能，包括淺顯易懂的設置和校準向?qū)?，迅捷的S掃描和A掃描顯示更新率，和快速的脈沖重復頻率（PRF），使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。
OmniScan SX能與Olympus數(shù)量龐大的掃查器、探頭和附件產(chǎn)品，及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和軟件產(chǎn)品的完整結(jié)合，使檢測流程從設計、設置到采集、分析變得精簡有效。
OmniScan SX超聲波探傷儀是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應用，這款儀器操作極為方便，性價比*。
OmniScan SX有兩種型號：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規(guī)UT通道，可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產(chǎn)品*的更為輕巧便攜的性能。
?工作流程：
設計 NDT SetupBuilder |  | |
| 您的需要…… ……Olympus解決方案 在過去的幾年中，為滿足客戶的需求，Olympus投入了大量精力創(chuàng)建了各種完整的解決方案，并將這些方案投放到市場、付諸實踐。 |  | 采集 OmniScan |
數(shù)據(jù)分析和報告制作 OmniPC TomoView TomoView的性能如下：
|
?參數(shù)：
| 外殼 | |
| 外型尺寸 （W x H x D） | 267 mm × 208 mm × 94 mm （10.5 in. × 8.2 in. × 3.7 in.） |
| 重量 | 3.4 kg（7.5 lb），含電池 |
| 數(shù)據(jù)存儲 | |
| 存儲裝置 | SDHC卡，或大多數(shù)標準USB存儲設備 |
| 數(shù)據(jù)文件容量 | 300 MB |
| I/O端口 | |
| USB端口 | 2個符合USB 2.0技術(shù)規(guī)格的USB端口 |
| 音頻報警 | 有 |
| 視頻輸出 | 視頻輸出（SVGA） |
| I/O線 | |
| 編碼器 | 雙軸編碼器線（正交、向上、向下或時鐘/方向） |
| 數(shù)字輸入 | 4個數(shù)字TTL輸入，5 V |
| 數(shù)字輸出 | 3個數(shù)字TTL輸出，5 V；每個輸出zui大電流為15 mA。 |
| 采集開關(guān) | 有，通過對一個數(shù)字輸入進行配置的方式實現(xiàn) |
| 電源輸出線 | 5 V，500 mA電源輸出線（帶短路保護） |
| 步速輸入 | 5 V TTL步速輸入 |
| 顯示 | |
| 顯示屏尺寸 | 21.3 cm（8.4 in.） （對角線） |
| 分辨率 | 800像素?x ?600像素 |
| 亮度 | 600 cd/m2 |
| 觀察角度 | 水平： –80° ～ 80° 垂直： –60° ～ 80° |
| 顏色數(shù)量 | 1千6百萬 |
| 類型 | 薄膜晶體管液晶顯示屏（TFT LCD） |
| 電源 | |
| 電池類型 | 智能鋰離子電池 |
| 電池數(shù)量 | 1節(jié) |
| 電池供電時間 | 正常操作條件下，至少6小時 |
| 環(huán)境技術(shù)規(guī)格 | |
| 工作溫度范圍 | -10 °c ～ 45 °C （14 ºF ～ 113 ºF） |
| 存放溫度范圍 | –20 °C ～ 60 °C（–4 ºF ～ 140 ºF），含電池 –20 °C ～ 70 °C（–4 ºF ～ 158 ºF），不含電池 |
| 相對濕度 | 45 °C無冷凝的條件下，zui大相對濕度為70 %。 |
| 侵入保護評級 | 設計符合IP66評級 |
| 防撞擊評級 | 通過MIL-STD-810G 516.6的墜落測試 |
| 超聲技術(shù)規(guī)格（適用于OMNISX-1664PR） | |||
| 接口 | 1個相控陣接口： Olympus PA接口 2個UT接口： LEMO 00 | ||
| 聚焦法則數(shù)量 | 256個 | ||
| 探頭識別 | 自動探頭識別 | ||
| 脈沖發(fā)生器/接收器 | |||
| 孔徑 | 16個晶片 | ||
| 晶片數(shù)量 | 64個晶片 | ||
| 脈沖發(fā)生器 | PA通道 | UT通道 | |
| 電壓 | 40 V、80 V、115 V | 95 V、175 V、340 V | |
| 脈沖寬度 | 30 ns ～ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào)， 分辨率為2.5 ns。 | 30 ns ～ 1000 ns范圍內(nèi)可調(diào)， 分辨率為2.5 ns。 | |
| 脈沖形狀 | 負方波 | 負方波 | |
| 輸出阻抗 | 35 Ω（脈沖回波模式） 30 Ω（一發(fā)一收模式） | < 30 Ω | |
| 接收器 | PA通道 | UT通道 | |
| 增益 | 0 dB～80 dB，zui大輸入信號為550 mVp-p（滿屏高） | 0 dB～120 dB，zui大輸入信號為34.5 Vp-p（滿屏高） | |
| 輸入阻抗 | 60 Ω（脈沖回波模式） 150 Ω（一發(fā)一收模式） | 60 Ω（脈沖回波模式） 50 Ω（脈沖發(fā)送接收模式） | |
| 系統(tǒng)帶寬 | 0.6 MHz～18 MHz（–3 dB） | 0.25 MHz～28 MHz（–3 dB） | |
| 聲束形成 | |||
| 掃查類型 | 扇形或線性 | ||
| 組數(shù)量 | 1個 | ||
| 數(shù)據(jù)采集 | PA通道 | UT通道 | |
| 數(shù)字化頻率 | 每5/4個通道使用了一個插值后，為400 MHz（12比特） | 每4個通道使用了一個插值后，為400 MHz（12比特） | |
| zui大脈沖速率 | 高達6 kHz（C掃描） | ||
| 數(shù)據(jù)處理 | PA通道 | UT通道 | |
| 數(shù)據(jù)點數(shù) | zui多8192個 | ||
| 實時平均 | PA： 2、4、8、16 | UT： 2、4、8、16、32、64 | |
| 檢波 | 射頻、全波、正半波和負半波 | ||
| 濾波 | 3個低通、3個帶通、5個高通濾波器 | 3個低通、6個帶通、3個高通濾波器（TOFD配置下為8個低通濾波器） | |
| 視頻濾波 | 平滑（根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)） | ||
| 數(shù)據(jù)顯示 | |||
| A掃描刷新率 | A掃描： 60 Hz； S掃描： 60 Hz | ||
| 數(shù)據(jù)同步 | |||
| 根據(jù)內(nèi)部時鐘 | 1 Hz～6 kHz | ||
| 根據(jù)編碼器 | 雙軸： 1步～65536步 | ||
| 可編程的時間校正增益（TCG） | |||
| 點數(shù) | 16個： 每個聚焦法則有一條TCG （時間校正增益）曲線 | ||
| zui大斜率 | 40 dB/10 ns | ||
| 報警 | |||
| 報警數(shù)量 | 3個 | ||
| 條件 | 閘門的任意邏輯組合 | ||
美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX應用：
組件檢測
組件檢測利用超聲技術(shù)，可以探測到裂縫、壁厚減薄以及其它各種缺陷。OmniScan SX既可以使用角度聲束，也可以使用線性零度聲束，因此成為完成這類單組檢測應用的一個性價比*的解決方案。
相控陣焊縫檢測
OmniScan PA是Olympus公司為石油和天然氣工業(yè)開發(fā)的手動和半自動相控陣焊縫檢測解決方案的核心。這些系統(tǒng)不僅可用于符合ASME、API及其它規(guī)范標準的檢測，而且還具有高速探測、便于缺陷指示判讀的特性。
腐蝕成像和復合材料檢測
隨著OmniScan SX的出現(xiàn)，零度檢測變得更為簡便易行。在腐蝕或復合材料的檢測應用中，Olympus可提供探測材料中異常現(xiàn)象或壁厚損失的經(jīng)過實地驗證的解決方案。
TOFD焊縫檢測
在主要探測焊縫缺陷的應用中，TOFD是一種簡便易行、效率*的檢測方法。這種方法不僅可以快速定量在焊縫體積中發(fā)現(xiàn)的缺陷（焊縫通常是制造缺陷高發(fā)的地帶），且其性價比*。
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