CMI900 X-熒光鍍層測厚儀
- 公司名稱 深圳市大茂電子有限公司蘇州辦事處
- 品牌
- 型號 CMI900
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/8/25 17:59:45
- 訪問次數(shù) 881
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CMI做為*品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900/950主機(jī)的全面自動化控制，
技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都于*的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定zui多5層、15 種元素。
B ：精確度于世界，精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點(diǎn)，zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實(shí)現(xiàn)測定點(diǎn)自動編程控制。
2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。
可擴(kuò)展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下：
No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
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3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 | |
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
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5 | X射線探測系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | |
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| －樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
－zui大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－XY軸程控移動范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動時(shí)，269.2mm | |
－XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
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